Language
Country/Area
No result found
nan
في عالم التصميم الإلكتروني ، غالبًا ما يتم ذكر تقنيات اختبار الأعطال ، وخاصة طريقة توليد نمط الاختبار التلقائي (ATPG). لا تسمح هذه التكنولوجيا للمهندسين فقط بالتقاط أخطاء الدائرة المحتملة أثناء عملية التصنيع ، ولكن أيضًا تعمل على تحسين جودة المنتج النهائي. يقوم ATPG بإنشاء سلسلة من أوضاع الاختبار ، مما يسمح لمعدات الاختبار بتحديد السلوكيات غير الطبيعية بشكل فعال أثناء تشغيل الدائرة.
عادة ما يتم قياس تأثير ATPG في عدد العيوب القابلة للاكتشاف وعدد أوضاع الاختبار التي تم إنشاؤها.
وفقًا لأنواع مختلفة من ATPG ، تنقسم هذه التكنولوجيا إلى فئتين: مجموعة ATPG المنطقية والمنطق المتسلسل ATPG. يستهدف ATPG المنطقي بشكل أساسي اختبار مستقل لخطوط الإشارة ، بينما يتطلب ATPG المنطقي المتسلسل عمليات بحث أكثر تعقيدًا لتسلسلات متجه الاختبار المحتملة.
أهمية نموذج الفشل
يشيرنموذج الصدع إلى وصف العيوب المحتملة أثناء التصنيع في شكل رياضي. من خلال نماذج الفشل هذه ، يمكن للمهندسين تقييم سلوك الدوائر في مواجهة المكسور أو عدم الاستقرار بشكل أكثر فعالية. تساعد نماذج الفشل الحالية مثل افتراض الفشل الواحد والافتراض متعدد الفرق في فهم فرق الفشل وخلق استراتيجيات اختبار أكثر فعالية.
في بعض الحالات ، قد لا يتم اكتشاف خطأ على الإطلاق.
على سبيل المثال ، تعد نماذج فشل الوحدة (مثل فشل "التشويش") واحدة من أكثر نماذج الفشل شعبية في العقود الماضية. يعتقد هذا النموذج أنه قد يتم إصلاح بعض خطوط الإشارة في الدائرة لقيمة منطقية معينة بغض النظر عن كيفية تغيير المدخلات الأخرى. يمكن أن يقلل الجمع بين نماذج الفشل هذه بشكل كبير من عدد الاختبارات المطلوبة وتحسين كفاءة الاختبار.
نوع الخطأ والكشف
يمكن تقسيمالأعطال إلى أنواع كثيرة ، بما في ذلك أخطاء الدائرة المفتوحة ، وأخطاء التأخير ، وأخطاء الدائرة القصيرة. تتطلب هذه الأنواع المختلفة من الفشل تطوير استراتيجيات الاختبار المقابلة لضمان تحديد الأعطال بشكل فعال. يمكن أن تسبب فشل التأخير عملية غير طبيعية بسبب انتشار الإشارة البطيء في مسار الدائرة ، وهو أمر بالغ الأهمية بشكل خاص في التصميمات عالية الأداء.
لا يمكن تجاهل تأثير الضجيج المتبادل وضوضاء إمدادات الطاقة على الموثوقية والأداء في التحقق من تصميم اليوم.
بالإضافة إلى ذلك ، كما يميل التصميم نحو تقنية النانو ، اتبعت مشاكل اختبار التصنيع الجديدة. نظرًا لأن التصميمات تصبح معقدة بشكل متزايد ، يجب أن تكون نمذجة الأخطاء الحالية وتقنيات توليد المتجهات مبتكرة من أجل النظر في معلومات الوقت والأداء في ظل ظروف التصميم المتطرفة.
تطور تقنية ATPG
قد وفرت خوارزميات ATPG السابقة مثل خوارزميات D حلولًا عملية لتوليد الاختبار ، ومع تقدم التكنولوجيا ، أظهرت العديد من الخوارزميات الجديدة ، مثل مولد الطيف التلقائي الطيفي (WASP) ، إمكانات في اختبار الدوائر المعقدة. هذه الخوارزميات لا تسرع سرعة الاختبار فحسب ، بل تعمل أيضًا على تحسين تغطية الاختبار.
الاستنتاج
مع ما سبق ، فإن تطوير ATPG أمر بالغ الأهمية في سياق نماذج الفشل الحالية والتكنولوجيا النانوية الناشئة. لا يمكن نهجها المبتكر المستمر تحسين جودة الاختبار فحسب ، بل يوفر أيضًا موثوقية وثباتًا أعلى للمنتجات الإلكترونية المستقبلية. هل تعتقد أن هناك طرقًا أخرى لزيادة تحسين جودة الاختبار في عصر التكنولوجيا التطوري بسرعة؟
