An der Spitze der wissenschaftlichen Forschung hat sich die Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS) mit ihrer einzigartigen Technologie etabliert und ist zu einem wichtigen Instrument zur Aufklärung der mikroskopischen Struktur von Materie geworden. Mit dieser Technologie lassen sich nicht nur Elektronen in Feststoffen, Gasen oder Flüssigkeiten analysieren, sondern sie nutzt auch den photoelektrischen Effekt, um die Energie angeregter Elektronen zu messen und so Einblicke in die innere Struktur und chemische Umgebung von Materie zu gewinnen.
Kai Siegbahn begann bereits 1957 mit der Entwicklung dieser Technik und nannte sie „Elektronenspektroskopie zur chemischen Analyse“ (ESCA), wofür er 1981 den Nobelpreis erhielt.
Das Funktionsprinzip von XPS besteht darin, dass die Technologie die Probe mit Röntgenstrahlen anregt, wodurch Elektronen freigesetzt werden. Anschließend analysiert sie die chemischen Eigenschaften der Substanz anhand der Bindungsenergie dieser Elektronen. XPS und verwandte Techniken wie die Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS) und die Zwei-Photonen-Photoelektronenspektroskopie (2PPE) liefern uns je nach Quelle und Energie des Lichts Informationen über die elektronische Struktur auf unterschiedlichem Niveau. Beispielsweise verlassen sich Bereiche wie die Luftfahrt, Materialwissenschaften und Elektronik bei der Materialanalyse und Qualitätskontrolle auf diese Technologien.
Basierend auf dem photoelektrischen Effekt werden Elektronen angeregt und entweichen, wenn eine Probe mit einer UV- oder XUV-Lichtquelle bestrahlt wird. Dieser Prozess ermöglicht es uns, die Energieverteilung dieser Elektronen zu erkennen. Bei festen Materialien können tatsächlich nur Elektronen aus der Oberflächenschicht entweichen, weshalb wir hauptsächlich die Oberflächenstruktur analysieren. Dies bedeutet zugleich auch, dass sich XPS besonders gut für die Analyse dünner Filme oder oberflächenmodifizierter Materialien eignet.
Aufgrund der hohen Lichtfrequenz gilt XPS als eine der empfindlichsten und präzisesten Techniken zur Messung der elektronischen Zustände und Orbitalformen von Molekülen und Atomen.
XPS hat ein breites Anwendungsspektrum, insbesondere in der Materialwissenschaft. Es wird verwendet, um die chemische Zusammensetzung, die Bindungsumgebung und die elektronische Struktur von Materialien zu untersuchen und kann sogar Spurenelemente in extrem niedrigen Konzentrationen identifizieren. Die Stärke dieser Technologie liegt in den Daten, die sie erzeugen kann und die Wissenschaftlern helfen können, die Leistungsfähigkeit von Materialien besser zu verstehen, beispielsweise die Haltbarkeit eines Kunststoffs oder die mechanischen Eigenschaften einer Leichtmetalllegierung.
Mit der weitverbreiteten Anwendung von Synchrotronstrahlungsquellen hat auch die XPS-Technologie bedeutende Fortschritte gemacht. Eine höhere Energieauflösung und eine verbesserte Impulsauflösung haben zu einer größeren Popularität der winkelaufgelösten Photoelektronenspektroskopie (ARPES) geführt. Dieser Fortschritt verbessert nicht nur unsere Fähigkeit, Bandlücken in Materialien zu erkennen, sondern bringt unsere Forschung auch näher an das tatsächliche Materialverhalten.
Es wird erwartet, dass die XPS-Technologie in Zukunft in der Nanotechnologie, der Katalysatorforschung und der Entwicklung verschiedener hochleistungsfähiger Funktionsmaterialien eine größere Rolle spielen wird.
Im Allgemeinen ist die Röntgen-Photoelektronenspektroskopie nicht nur ein leistungsfähiges Werkzeug in wissenschaftlichen Laboren, sondern auch ein Fenster zur Erforschung der Natur der Materie. Mit dem Fortschritt der Technologie erweitert sich der Anwendungsbereich dieser Methode immer mehr und sie kann sowohl in der Grundlagenforschung als auch in der praktischen Anwendung eine große Hilfe sein. Doch wie wird sich diese Technologie in Zukunft mit der Forschung an neuen Materialien verbinden und welche weiteren Überraschungen wird sie für uns bereithalten?