Mit der rasanten Entwicklung moderner Wissenschaft und Technologie ist das tiefgreifende Verständnis der inneren Mikrostruktur von Materialien zu einem Schwerpunkt vieler Forschungsbereiche geworden. Die Piezoresponse-Force-Mikroskopie (PFM) ist eine innovative Variante des Rasterkraftmikroskops, die das Feld piezoelektrischer/ferroelektrischer Materialien mit hoher Auflösung abbilden und manipulieren kann. Dieser Artikel befasst sich mit den Funktionsprinzipien und Anwendungen von PFM und enthüllt die Geheimnisse seiner hohen Auflösung.
Die PFM-Technologie hat seit ihrer Einführung nach und nach große Aufmerksamkeit erregt, vor allem aufgrund ihrer Vorteile in verschiedenen Bereichen der ferroelektrischen Materialien, Halbleiter und sogar der Biologie.
PFM ermöglicht es Forschern, Bereiche unterschiedlicher Größe zu identifizieren, die von 100 × 100 μm2 bis in den Nanobereich reichen, und gleichzeitig die Topographie der Probenoberfläche abzubilden.
Bei einem typischen PFM-Vorgang verwenden Forscher eine scharfe leitfähige Sonde, um das piezoelektrische Material zu kontaktieren und eine Wechselspannung an die Sonde anzulegen, um eine Verformung der Probe anzuregen. Die Auslenkung der Sonde wird durch standardmäßige Split-Photodioden-Detektionsmethoden erfasst und durch einen Lock-in-Verstärker demoduliert, um eine hochauflösende Bildgebung zu erreichen.
Der piezoelektrische Effekt beschreibt die Spannung, die ein Material erzeugt, wenn ein elektrisches Feld angelegt wird. Dieser Effekt ermöglicht es PFM, elektrische und mechanische Veränderungen in Materialien zu erkennen. Am Beispiel von BaTiO3 kommt es bei Anlegen einer Spannung von 1 V zu einer winzigen Verschiebung von nur 0,0856 Nanometern. Solch kleine Verschiebungen sind mit herkömmlichen Detektionssystemen schwer zu erfassen, daher nutzt PFM die Phasenverriegelungstechnologie, um das Zielsignal vom zufälligen Rauschen zu trennen.
Die PFM-Technologie kann in vertikale und laterale Bildgebungsmodi unterschieden werden. Durch die Aufteilung des Fotodiodendetektors kann PFM piezoelektrische Antwortsignale in der Ebene und außerhalb der Ebene erhalten, um die Polarisationsrichtung des Materials zu analysieren.
Im vertikalen PFM-Modus kann die Polarisationsrichtung anhand von Phaseninformationen identifiziert werden, während im lateralen PFM-Modus Polarisationskomponenten in der Ebene bestimmt werden können.
Die Anwendung der PFM-Technologie in Biomaterialien hat auch ihr breites Potenzial gezeigt, beispielsweise bei der Untersuchung von Zähnen, Knochen, Lungen und einzelnen Kollagenfasern. Die endogene Piezoelektrizität dieser Materialien könnte eine wichtige Rolle in ihrer mechanischen Biologie spielen. spielen eine Schlüsselrolle beim Lernen.
Mit der Weiterentwicklung der Technologie hat PFM auch eine Reihe fortschrittlicher Modi eingeführt, die die Flexibilität bei der Erkennung nanoskaliger Merkmale erheblich verbessern. Beispielsweise ermöglicht die zeitsequentielle PFM-Technologie die sofortige Abbildung von Materialumschaltungen durch Anlegen von Spannungsimpulsen über einer kritischen Spannung an die Probe und anschließende Abbildung, um den augenblicklichen Umschaltvorgang zu erfassen.
Darüber hinaus verbessert die Kontaktresonanz-PFM-Technologie das Signal-Rausch-Verhältnis des Signals durch Anpassung der angelegten Frequenz und erreicht so eine höhere Messgenauigkeit. Die Switching Spectrum (SS) PFM-Technologie erweitert den Anwendungsbereich von PFM weiter und ermöglicht die Erkennung von Materialeigenschaften unter verschiedenen elektrischen Feldern.
Die Entwicklung der PFM-Technologie treibt die Forschung in den Bereichen Materialwissenschaften, Elektronik und sogar Biomedizin rasant voran. Diese Technologie kann die Geheimnisse der inneren Struktur verschiedener Materialien mit hoher Auflösung enthüllen, und mit der Weiterentwicklung der Technologie werden immer ausgefeiltere Beobachtungs- und Forschungsmethoden entstehen. In welchen neuen Bereichen oder Technologien kann PFM auch in Zukunft sein starkes Potenzial entfalten?