Mit der Entwicklung der Mikroelektronik sind wir in das Zeitalter der Nanoelektronik eingetreten. Dabei können herkömmliche Messmethoden den Anforderungen an elektronische Eigenschaften im Nanobereich nicht mehr gerecht werden. Derzeit ist das Mehrsonden-Rastertunnelmikroskop (Multi-Tip STM) wie ein magisches Werkzeug, mit dem Forscher elektrische Eigenschaften im Nanobereich messen können. Durch die Entwicklung von Mehrsonden-STMs sind wir in der Lage, wie mit einem Multimeter genaue Messungen auf extrem kleinen Skalen durchzuführen, was insbesondere in der Materialwissenschaft, der Nanowissenschaft und verwandten Technologien von Bedeutung ist.
Im Kontext der rasanten Entwicklung der Nanoelektronik sind effektive Elektronentransportmessungen von großer Bedeutung, insbesondere für die Forschung und Entwicklung von Nanostrukturen. Traditionelle Kontaktmethoden basieren häufig auf Photolithografie, in der Forschungsphase scheint jedoch die Kontaktierung mittels Mehrsonden-STM geeigneter zu sein. Mit dieser Methode können nicht nur Messungen vor Ort durchgeführt werden, sondern auch durch den Fotolithografieprozess bedingte Kontaminationsprobleme wirksam vermieden werden.
Der Betrieb eines Mehrsonden-STM im Mikrometermaßstab ist wie das Malen mit Präzisionswerkzeugen in der Nanowelt.
Mehrsonden-STM bestehen normalerweise aus mehreren STM-Einheiten, von denen jede unabhängig gesteuert und präzise an einer bestimmten Stelle auf der Probe positioniert werden kann. Um die Auswirkungen der thermischen Drift zu verringern, sind diese Geräte so kompakt wie möglich gestaltet und ermöglichen die Beobachtung ihrer Bewegung. Auf diese Weise wird sichergestellt, dass jede Sonde effektiv mit der Probe in Kontakt treten kann. Im Vergleich zum photolithographischen Kontakt kann beim Mehrsonden-STM das Kontaktschema flexibel angepasst werden, was die Flexibilität der Forschung erheblich erhöht.
Das Multi-Probe-STM hat bei der Untersuchung der lokalen Transporteigenschaften von 40 nm breiten Graphen-Nanobändern hervorragende Ergebnisse gezeigt. Diese Nanobänder können bei Raumtemperatur eine ballistische Leitfähigkeit von mehreren Mikrometern erreichen, was eine starke technische Unterstützung für die zukünftige Nanoelektronik darstellt.
In frei schwebenden GaAs-Nanodrähten ermöglicht das Mehrsonden-STM eine detaillierte Abbildung der Widerstandsverteilung. Dies hilft bei der Untersuchung und Analyse der Dotierungseigenschaften und des elektrischen Verhaltens von Nanodrähten und löst Herausforderungen, denen herkömmliche Methoden gegenüberstehen.
Die Messung des Rastertunnelpotentials (STP) ist eine Methode, die tiefe Einblicke in die Ladungstransporteigenschaften innerhalb von Nanostrukturen liefert. Mit dieser Methode wird durch Anlegen von Strom an die Probe und Messen der Potenzialänderung eine Potenzialkarte der Probe erstellt. Dies hilft bei der Untersuchung der Auswirkungen verschiedener Defekte auf den elektrischen Transport.
Da die Größe von Nanogeräten immer weiter abnimmt, wird der Einfluss der Oberflächenleitfähigkeit auf die Gesamtleistung elektronischer Geräte immer deutlicher. Die Forscher verwendeten ein Mehrsonden-STM, um die Oberflächenleitfähigkeit und die Gesamtleitfähigkeit von Nanomaterialien mithilfe einer abstandsabhängigen Viersonden-Messmethode unabhängig voneinander zu bewerten.
Mithilfe des Mehrsonden-STM lässt sich auch die Spinspannung in topologischen Isolatoren erfassen, was für das Verständnis der Wechselwirkung zwischen Spins und ihrer Anwendungen in der Elektronik von großer Bedeutung ist. Die Forschung auf diesem Gebiet fördert die Integration der klassischen Physik und der Quantenphysik.
AbschlussMit der Weiterentwicklung der Mehrsonden-STM-Technologie haben wir ein tieferes Verständnis und eine tiefere Anwendung elektrischer Messungen im Nanomaßstab erlangt, und ihr Potenzial wird zweifellos den zukünftigen Fortschritt der Nanotechnologie bestimmen. Haben auch Sie angesichts einer solch hochpräzisen Messmethode das Gefühl, dass sich uns die Geheimnisse der Nanowelt erschließen?