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In der Welt des elektronischen Designs werden häufig Fehlertestechniken erwähnt, insbesondere die Methode der automatischen Testmustererzeugung (ATPG). Diese Technologie ermöglicht es Ingenieuren nicht nur, potenzielle Schaltungsfehler während des Herstellungsprozesses zu erfassen, sondern verbessert auch die Qualität des Endprodukts. ATPG erzeugt eine Reihe von Testmodi, sodass die Testgeräte während des Betriebs der Schaltung effektiv abnormale Verhaltensweisen identifizieren können.
Der Effekt des ATPG wird normalerweise in der Anzahl der nachweisbaren Fehler und der Anzahl der generierten Testmodi gemessen.
Nach verschiedenen ATPG -Arten ist diese Technologie in zwei Kategorien unterteilt: Kombinationslogik -ATPG und sequentielle logische ATPG. Die Kombination logisch ATPG zielt hauptsächlich auf unabhängige Testen von Signallinien ab, während sequentielle logische ATPG komplexere Suchanfragen nach möglichen Testvektorsequenzen erfordern.
Die Bedeutung des Fehlermodells
Fehlermodell bezieht sich auf die Beschreibung möglicher Defekte während der Herstellung in mathematischer Form. Durch diese Fehlermodelle können Ingenieure das Verhalten von Schaltungen angesichts von gebrochenem oder Instabilität effektiver bewerten. Aktuelle Ausfallmodelle wie Einzelversorgungsannahme und Multi-Failure-Annahme helfen den Teams, die Möglichkeit eines Scheiterns zu verstehen und effektivere Teststrategien zu erstellen.
In einigen Fällen kann ein Fehler überhaupt nicht erkannt werden.
Beispielsweise sind Einheitenversagensmodelle (z. B. "verstopfte" Fehler) eines der beliebtesten Versagensmodelle in den letzten Jahrzehnten. Dieses Modell ist der Ansicht, dass einige Signallinien in der Schaltung auf einen bestimmten Logikwert festgelegt werden können, unabhängig davon, wie sich andere Eingänge ändern. Die Kombination dieser Fehlermodelle kann die Anzahl der erforderlichen Tests erheblich verringern und die Testeffizienz verbessern.
Fehlertyp und Erkennung
Fehler können in viele Typen unterteilt werden, einschließlich offener Schaltungsfehler, Verzögerungsfehler und Kurzschlussfehler. Diese verschiedenen Arten von Fehlern erfordern die Entwicklung entsprechender Teststrategien, um sicherzustellen, dass die Fehler effektiv identifiziert werden können. Verzögerungsfehler können aufgrund der langsamen Signalausbreitung im Schaltungsweg einen abnormalen Betrieb verursachen, der bei Hochleistungsdesigns besonders kritisch ist.
Die Auswirkungen von Übersprechen und Stromversorgungsrauschen auf die Zuverlässigkeit und Leistung können bei der heutigen Entwurfsüberprüfung nicht ignoriert werden.
, da das Design zu Nanotechnologie tendiert, wurden neue Probleme mit der Herstellungstests befolgt. Da Designs immer komplexer werden, müssen bestehende Fehlermodellierung und Technologien zur Vektorgenerierung innovativ sein, um Zeitinformationen und Leistung unter extremen Entwurfsbedingungen zu berücksichtigen.
Evolution der ATPG -Technologie
Past ATPG -Algorithmen wie D -Algorithmen haben praktische Lösungen für die Testgenerierung bereitgestellt, und mit der technologischen Weiterentwicklung haben viele neue Algorithmen, wie der Spektralautomatik -Spektrumgenerator (WASP), bei der Prüfung komplexer Schaltkreise Potenzial gezeigt. Diese Algorithmen beschleunigen nicht nur die Testgeschwindigkeit, sondern verbessern auch die Abdeckung des Tests.
Schlussfolgerung
Zusammen mit dem oben genannten ist die Entwicklung von ATPG im Zusammenhang mit vorhandenen Versagensmodellen und der aufkommenden Nanotechnologie von entscheidender Bedeutung. Sein kontinuierlicher innovativer Ansatz kann nicht nur die Qualität der Tests verbessern, sondern auch eine höhere Zuverlässigkeit und Stabilität für zukünftige elektronische Produkte bieten. Denken Sie, dass es andere Möglichkeiten gibt, die Qualität der Tests in dieser sich schnell entwickelnden Ära der Technologie weiter zu verbessern?
