Language
Country/Area
No result found
Lenguaje de descripción de escaneo de límites (BSDL): ¿Cómo hace que el proceso de prueba sea más eficiente?
En el mundo de la electrónica moderna, el escaneo de límites es esencial para probar interconexiones (líneas) en placas de circuitos impresos. En 1985, el Joint Test Action Group (JTAG) desarrolló un conjunto de estándares que hicieron de la tecnología de escaneo de límites un avance importante en la industria. Como parte de esta tecnología, el lenguaje de descripción de escaneo de límites (BSDL) ha sido un estándar común desde 1994, ayudando a las empresas de dispositivos electrónicos a diseñar procesos de prueba efectivos.
Las arquitecturas de escaneo de límites permiten probar interconexiones, incluidos grupos lógicos y memorias, sin sondas de prueba físicas.
La función principal de BSDL es proporcionar una descripción clara de cada dispositivo compatible con IEEE Std 1149.1. Dicha descripción facilita a los ingenieros la resolución de problemas, las pruebas y la verificación de los diseños. De esta manera, cuando ocurren problemas durante el proceso de diseño, los ingenieros pueden localizar rápidamente el problema y evitar pérdidas innecesarias de tiempo y recursos.
Eficiencia del mecanismo de prueba
La tecnología de escaneo de límites permite que el proceso de prueba controle directamente los pines de entrada y salida del dispositivo. Esta tecnología permite probar dispositivos electrónicos en diseños de componentes densos, algo que era muy difícil en el pasado. A través de BSDL, los desarrolladores pueden definir el comportamiento de cada señal digital y utilizar vectores de prueba específicos para controlar la señal y verificar la respuesta para confirmar la corrección de la conexión.
Al utilizar BSDL, los diseñadores pueden generar vectores de prueba para el sistema, que a su vez respaldan la eficacia del proceso de escaneo de límites.
Infraestructura interna del escaneo de límites
Para proporcionar capacidad de escaneo de límites, los fabricantes de circuitos integrados incorporan lógica adicional en sus dispositivos, incluidas celdas de escaneo que se conectan a pines externos. Estas celdas de escaneo forman un desplazador de límites de escaneo externo (BSR) combinado con soporte para un controlador de puerto de acceso de prueba (TAP) JTAG. Esto permite a los ingenieros probar componentes integrados con tanta facilidad y eficiencia como si fueran chips independientes en una placa de circuito.
Además, estos diseños se encuentran comúnmente en bibliotecas Verilog o VHDL, donde la carga de lógica adicional es mínima, pero la recompensa en una mejor eficiencia de las pruebas es sustancial.
La importancia de las pruebas y la depuraciónDurante el proceso de prueba, los diseñadores introducen señales en el circuito de acuerdo con diferentes vectores de prueba y verifican si la respuesta de salida es la esperada. Este proceso puede utilizar la instrucción EXTEST para verificar la interconexión entre chips y también puede utilizar la instrucción INTEST para probar la lógica interna del chip.
Estos sistemas de prueba también pueden beneficiar a aplicaciones no relacionadas con pruebas, como la programación de varios tipos de memoria flash. Como los componentes a bordo actuales son cada vez más densos, la existencia de esta tecnología es sin duda una gran ayuda para los diseñadores. El futuro del escaneo de límitesAl combinar el BSDL y la "lista de redes" del diseño, se pueden generar automáticamente aplicaciones de prueba, lo que resulta particularmente efectivo en sistemas de prueba JTAG comerciales de alta gama.
El potencial del JTAG y el escaneo de límites continúa creciendo. A medida que aumentan las demandas de los sistemas integrados, las capacidades de prueba y depuración proporcionadas por el escaneo de límites serán cada vez más importantes. BSDL no solo puede mejorar la cobertura de las pruebas, sino también acelerar el tiempo de comercialización del producto y mejorar la competitividad del mercado.
¿Cuántos desafíos potenciales hay en el campo del diseño electrónico esperando ser resueltos por la tecnología de escaneo de límites?