Si vous voulez savoir comment visualiser les propriétés des matériaux de micron à l'échelle nanométrique et comprendre le mécanisme de travail derrière eux, la microscopie à force de piézoresponse (PFM) sera un outil prometteur pour vous pour explorer ce champ.Cette technologie peut non seulement imaginer les caractéristiques des matériaux piézoélectriques ou des matériaux ferroélectriques, mais également d'obtenir les informations de topologie de surface de l'échantillon en même temps, ce qui offre sans aucun doute une perspective complètement nouvelle pour la science des matériaux, en particulier pour les caractéristiques des matériaux au micron et à la nanométrie niveaux.
PFM utilise une tension alternée appliquée à la sonde conductrice pour stimuler la déformation de l'échantillon, permettant une imagerie à haute résolution.
Depuis que la technologie PFM a été mise en œuvre pour la première fois par Güthner et Dransfeld, elle a progressivement attiré l'attention de plus en plus de chercheurs.Cela est principalement dû à l'application large du PFM dans de nombreux domaines tels que les matériaux ferroélectriques, les semi-conducteurs et même la biologie et ses défauts relativement peu.Dans les applications les plus courantes, le PFM est capable d'explorer les propriétés à l'échelle nanométrique à partir d'échelles relativement grandes (par exemple, des analyses 100 × 100 micron) et d'immatiser simultanément la topologie de surface de l'échantillon.
L'effet piézoélectrique (CPE) décrit comment le champ électrique appliqué produit une déformation, ce qui provoque à son tour la déformation physique du matériau.Cela signifie que le PFM peut détecter la structure du domaine du matériau et déterminer leur orientation, ce qui est crucial pour comprendre les propriétés du matériau.
La caractéristique la plus importante du PFM est que la sonde doit être conductrice afin que la tension de biais puisse être appliquée à l'échantillon.
La détection du signal du PFM dépend généralement d'un amplificateur verrouillé en phase (LIA).LIA sépare les informations utiles dans le signal en comparant le signal d'entrée avec le signal de référence, qui est la principale méthode de démodulation du signal.Ce processus de démodulation nous permet d'extraire les données requises à partir de signaux de déplacement extrêmement minuscules, donnant ainsi à la technologie PFM extrêmement élevée.
Les capacités d'imagerie du PFM ont été largement utilisées dans différents matériaux, tels que la structure du domaine à 180 ° dans le titanate de potassium (KTP) peuvent être observées et peuvent présenter le comportement de ces structures aux échelles micro et nanométriques.
PFM a été appliqué avec succès à l'analyse des matériaux biologiques tels que les dents, les os et le collagène, ce qui suggère que la piézoélectricité potentielle dans les matériaux biologiques peut jouer un rôle important dans leur mécanobiologie.
En plus de la forme PFM de base, les scientifiques ont développé une variété de modes avancés tels que Flash PFM (Stroboscopic PFM) et Contact Resonance PFM (Contact Resonance PFM).Ces technologies améliorées permettent aux utilisateurs de détecter les fonctionnalités à l'échelle nanométrique et les processus dynamiques de manière plus précise.
En bref, la technologie PFM a porté la technologie d'imagerie traditionnelle à un tout nouveau niveau, à la fois à la micro et à l'échelle nanométrique.Cela améliore non seulement notre compréhension de la structure interne des matériaux, mais apporte également plus de possibilités pour le développement et l'application futurs des matériaux.Alors que nous nous lançons dans le voyage d'exploration du monde microscopique et de faire face à une telle technologie de pointe, êtes-vous curieux de savoir comment cela affectera notre compréhension et notre application de la science des matériaux?