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Dans le monde de la conception électronique, les techniques de test des défauts sont souvent mentionnées, en particulier la méthode de génération automatique du modèle de test (ATPG). Cette technologie permet non seulement aux ingénieurs de capturer des erreurs de circuit potentiels pendant le processus de fabrication, mais améliore également la qualité du produit final. ATPG génère une série de modes de test, permettant à l'équipement de test d'identifier efficacement des comportements anormaux pendant le fonctionnement du circuit.
L'effet de l'ATPG est généralement mesuré dans le nombre de défauts détectables et le nombre de modes de test générés.
Selon différents types d'ATPG, cette technologie est divisée en deux catégories: la logique combinée ATPG et la logique séquentielle ATPG. La logique combinée ATPG cible principalement les tests indépendants des lignes de signal, tandis que la logique séquentielle ATPG nécessite des recherches plus complexes pour des séquences de vecteur de test possibles.
L'importance du modèle d'échec
Le modèle de défaut fait référence à la description des défauts possibles lors de la fabrication sous forme mathématique. Grâce à ces modèles de défaillance, les ingénieurs peuvent évaluer plus efficacement le comportement des circuits face à la cassé ou à l'instabilité. Les modèles de défaillance actuels tels que l'hypothèse en une seule fonctionnalité et l'hypothèse multi-faculaires aident les équipes à comprendre la possibilité d'échec et à créer des stratégies de test plus efficaces.
Dans certains cas, un défaut peut ne pas être détecté du tout.
Par exemple, les modèles de défaillance unitaire (tels que les échecs "bloqués") sont l'un des modèles de défaillance les plus populaires au cours des dernières décennies. Ce modèle estime que certaines lignes de signal dans le circuit peuvent être fixées à une certaine valeur logique, quelle que soit la façon dont les autres entrées changent. La combinaison de ces modèles de défaillance peut réduire considérablement le nombre de tests requis et améliorer l'efficacité des tests.
Type de défaut et détection
Les défauts peuvent être divisés en de nombreux types, y compris les défauts de circuit ouvert, les défauts de retard et les défauts de court-circuit. Ces différents types d'échecs nécessitent le développement de stratégies de test correspondantes pour garantir que les défauts peuvent être identifiés efficacement. Les défaillances de retard peuvent provoquer un fonctionnement anormal en raison de la propagation lente du signal dans le chemin du circuit, ce qui est particulièrement critique dans les conceptions haute performance.
L'impact de la diaphonie et du bruit d'alimentation sur la fiabilité et les performances ne peut être ignoré dans la vérification de la conception d'aujourd'hui.
De plus, comme la conception tend vers la nanotechnologie, de nouveaux problèmes de test de fabrication ont suivi. À mesure que les conceptions deviennent de plus en plus complexes, les technologies de modélisation des défauts et de génération de vecteurs existantes doivent être innovantes afin de prendre en compte les informations temporelles et les performances dans des conditions de conception extrêmes.
Évolution de la technologie ATPG
Les algorithmes ATPG passés tels que les algorithmes D ont fourni des solutions pratiques pour la génération de tests, et avec l'avancement de la technologie, de nombreux nouveaux algorithmes, tels que le générateur de spectre automatique spectral (WASP), ont montré un potentiel dans les tests de circuits complexes. Ces algorithmes accélèrent non seulement la vitesse de test, mais améliorent également la couverture du test.
Conclusion
Parallèlement à ce qui précède, le développement de l'ATPG est crucial dans le contexte des modèles de défaillance existants et de la nanotechnologie émergente. Son approche innovante continue peut non seulement améliorer la qualité des tests, mais également fournir une fiabilité et une stabilité plus élevées pour les futurs produits électroniques. Pensez-vous qu'il existe d'autres moyens d'améliorer encore la qualité des tests dans cette ère de technologie en développement rapide?
