Sejak penemuan pertama mikroskop terowongan pemindaian pada tahun 1981, mikroskopi probe pemindaian (SPM) telah menjadi alat penting untuk mempelajari sifat mikroskopis permukaan. Dengan mikroskop ini, para ilmuwan dapat mengamati materi pada tingkat atom. Pengembangan teknologi ini tidak hanya meningkatkan pemahaman kita tentang ilmu material, tetapi juga meletakkan dasar bagi inovasi dalam semikonduktor dan nanoteknologi.
Prinsip inti mikroskopi probe pemindaian didasarkan pada probe yang sangat sensitif yang memindai permukaan sampel dan merekam interaksinya dengan sampel. Hasil interaksi ini sering ditampilkan sebagai peta panas, yang menjadi gambar mikroskopis dari apa yang kita lihat.
Para ilmuwan telah menunjukkan fleksibilitas dan keragaman yang luar biasa dalam menggunakan teknologi ini untuk mengeksplorasi struktur mikroskopis.
Proses pencitraan mikroskop probe pemindaian biasanya bergantung pada mode operasi probe, yang secara garis besar dapat dibagi menjadi dua jenis: mode interaksi konstan dan mode ketinggian konstan.
Dalam mode interaksi konstan, probe akan terus menyesuaikan jaraknya berdasarkan parameter permukaan sampel. Melalui loop umpan balik, probe dapat secara otomatis bergerak mendekati atau menjauh dari permukaan untuk mempertahankan tingkat interaktivitas tertentu. Dalam mode ini, pengguna dapat merekam posisi sumbu Z probe dan membentuk gambar topologi.
Secara relatif, mode ketinggian konstan lebih rumit. Dalam mode ini, probe tidak bergerak ke atas dan ke bawah, tetapi merekam nilai yang terlihat selama pemindaian. Mode ini lebih rentan terhadap "keruntuhan" selama pengoperasian daripada mode interaksi konstan, di mana probe langsung mengenai sampel.
Berbagai jenis mikroskop probe pemindaian dilengkapi dengan probe dengan bentuk dan bahan yang berbeda. Ketajaman probe ini secara langsung memengaruhi resolusi mikroskop. Probe yang lebih tajam memungkinkan resolusi yang lebih tinggi, dan idealnya ujung probe hanya terdiri dari satu atom. Pembuatan probe biasanya melibatkan pengetsaan kimia dan pemilihan berbagai bahan, seperti paduan platinum-paladium dan tungsten.
Membuat probe lebih tajam dan lebih presisi merupakan tantangan, dan bagi para peneliti, hal ini merupakan kunci untuk mencapai resolusi atom yang presisi.
Keuntungan signifikan mikroskopi probe pemindaian adalah tidak dibatasi oleh batas difraksi dan dapat melakukan pengukuran dengan volume interaksi lokal yang sangat kecil. Ada bukti bahwa SPM berhasil mengukur perubahan ketinggian kecil seperti yang terjadi pada permukaan kristal silikon, bahkan perbedaan ketinggian 135 pikometer. Namun, proses pemindaiannya biasanya lambat, yang membatasi kecepatan pencitraannya dan memengaruhi efisiensi eksperimen.
Namun, mikroskop probe pemindaian juga memiliki keterbatasan. Misalnya, dampak bentuk probe pada data sering kali sulit dipahami. Dampaknya sangat jelas ketika ada gelombang besar pada permukaan sampel, yang menyulitkan SPM untuk mendapatkan data yang akurat dalam beberapa situasi.
Dengan kemajuan ilmu pengetahuan dan teknologi yang berkelanjutan, mikroskopi fotoarus pemindaian (SPCM) menjadi favorit baru bagi komunitas ilmiah. Mikroskopi ini menggunakan sinar laser terfokus untuk mendeteksi sifat optoelektronik suatu material. Dibandingkan dengan SPM tradisional, SPCM dapat memberikan perspektif baru untuk analisis material optoelektronik.
SPCM menghasilkan arus foto dengan mengeksitasi material semikonduktor. Proses ini memungkinkan peneliti untuk memperoleh pemahaman mendalam tentang perilaku listrik material di berbagai lokasi, sehingga memungkinkan evaluasi menyeluruh terhadap sifat optik material.
Mikroskop probe pemindaian tidak diragukan lagi merupakan jendela yang memungkinkan kita untuk melihat sekilas misteri dunia mikroskopis. Pengembangan dan penerapannya tidak hanya menyediakan alat baru untuk banyak bidang ilmiah, tetapi juga memungkinkan cakupan dan visi penelitian kita untuk terus berkembang. Sambil memikirkan semua ini, dapatkah kita membayangkan bagaimana teknologi mikroskopis ini akan dieksplorasi dan dieksploitasi di masa depan?