走査型電気化学顕微鏡 (SECM) は、走査型プローブ顕微鏡 (SPM) の広範なカテゴリ内で使用される革新的な技術であり、液体と固体、液体と気体、液体と液体の界面の局所的な電気化学的挙動を測定できます。この技術は、1989 年にテキサス大学の電気化学者であるアレン J. バードによって初めて提案され、象徴化されました。理論的基礎が成熟するにつれて、SECM は化学、生物学、材料科学の分野で広く使用されるようになりました。超微小電極 (UME) の先端の正確な位置で電流を測定することにより、空間的に分解された電気化学信号を得ることができます。これらの信号の解釈は拡散制限電流の概念に基づいており、これにより界面の反応性と化学反応速度論のイメージが得られます。
SECM 技術は界面現象を調査することができ、微細構造化や表面パターン形成などの材料科学において重要な用途が見出されています。
超微小電極 (UME) の出現は、SECM などの高感度電気分析技術の開発において重要な転換点となりました。 1986 年、エングストロームは SECM に似た最初の実験を実施し、反応パターンと短寿命中間体を観察しました。アラン・J・ベイダーの実験では、遠距離で測定された電流は電子トンネル効果とは一致せず、ファラデー電流によって引き起こされたことが指摘されました。これにより、電気化学顕微鏡に関するさらなる研究が促進されました。バッド氏は 1989 年に SECM の理論的基礎を提唱し、さまざまなフィードバック モードを導入しました。
Fe2+/Fe3+
を輸送するシステムでは、十分に負の電位が印加されると、UMEの先端でFe3+
がFe2+
に還元されます。拡散限界電流が発生します。このテクノロジには、フィードバック モードと収集生成モードという 2 つの主な動作モードがあります。
フィードバックモードでは、UME チップが導電性基板に近づくと、チップで生成された還元生成物が導電性表面で酸化され、チップ電流が増加して正のフィードバックが形成されます。ターゲットが絶縁表面である場合、酸化物を再生できないため電流が減少し、負のフィードバック ループが形成されます。
収集生成モードでは、UME チップは化学反応に十分な電位に保持され、一方、基質はチップによって生成された生成物を収集または反応するのに適した電位に保持されます。このパターンは、システム内の電子移動プロセスのダイナミクスについての洞察を提供します。
SECM は、固体材料の表面反応性の調査、水性環境におけるイオン結晶の溶解速度の研究、電気触媒材料のスクリーニング、酵素の活性の分析、合成/天然膜の動的輸送の調査に使用されてきました。
SECM の微細加工および平面設計機能により、特に金属堆積および表面パターン形成のプロセスにおける表面反応の応用において画期的な進歩が可能になりました。
技術の進歩に伴い、SECM の適用範囲は拡大し続け、その感度も向上し続けています。探査機の小型化と空間解像度の向上により、科学者はこれまで観察できなかった現象を観察できるようになります。これらの技術の背後には、次のような疑問が浮かびます。ミクロの世界を探索する過程で、SECM はより深い科学的謎を解くのに役立つのでしょうか?