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전자 설계의 세계에서는 특히 자동 테스트 패턴 생성 (ATPG) 방법이 종종 언급됩니다. 이 기술을 통해 엔지니어는 제조 공정에서 잠재적 회로 오류를 캡처 할 수있을뿐만 아니라 최종 제품의 품질을 향상시킬 수 있습니다. ATPG는 일련의 테스트 모드를 생성하여 테스트 장비가 회로 작동 중에 비정상적인 행동을 효과적으로 식별 할 수 있도록합니다.
ATPG의 효과는 일반적으로 감지 가능한 결함 수와 생성 된 테스트 모드 수에서 측정됩니다.
다양한 유형의 ATPG에 따르면,이 기술은 조합 로직 ATPG와 순차적 논리 ATPG의 두 가지 범주로 나뉩니다. 조합 로직 ATPG는 주로 신호 라인의 독립적 인 테스트를 목표로하는 반면, 순차적 로직 ATPG는 가능한 테스트 벡터 시퀀스에 대한보다 복잡한 검색이 필요합니다.
고장 모델의 중요성
결함 모델은 수학적 형태로 제조하는 동안 가능한 결함에 대한 설명을 나타냅니다. 이러한 실패 모델을 통해 엔지니어는 깨진 또는 불안정성에 직면하여 회로의 동작을보다 효과적으로 평가할 수 있습니다. 단일 후원 가정 및 다중 발급 가정과 같은 현재 실패 모델은 팀이 실패 가능성을 이해하고보다 효과적인 테스트 전략을 만듭니다.
예를 들어경우에 따라 결함이 전혀 감지되지 않을 수 있습니다.
단위 고장 모델 (예 : "jammed"실패)은 지난 수십 년 동안 가장 인기있는 실패 모델 중 하나입니다. 이 모델은 회로의 일부 신호 라인이 다른 입력이 어떻게 변하는 지에 관계없이 특정 논리 값에 고정 될 수 있다고 생각합니다. 이러한 실패 모델의 조합은 필요한 테스트 수를 크게 줄이고 테스트 효율을 향상시킬 수 있습니다.
오류 유형 및 감지
결함은 개방 회로 결함, 지연 결함 및 단락 결함을 포함한 여러 유형으로 나눌 수 있습니다. 이러한 다양한 유형의 실패는 결함을 효과적으로 식별 할 수 있도록 해당 테스트 전략의 개발이 필요합니다. 지연 실패는 회로 경로에서의 신호 전파가 느리기 때문에 비정상적인 작동을 일으킬 수 있으며, 이는 특히 고성능 설계에서 중요합니다.
오늘날의 설계 검증에서는 Crosstalk 및 전원 공급 장치 노이즈의 신뢰성 및 성능에 미치는 영향을 무시할 수 없습니다.
또한 설계가 나노 기술을 향한 경향이 있기 때문에 새로운 제조 테스트 문제가 이어졌습니다. 설계가 점점 복잡해지면서 기존의 결함 모델링 및 벡터 생성 기술은 극단적 인 설계 조건에서 시간 정보와 성능을 고려하기 위해 혁신적이어야합니다.
ATPG 기술의 진화
과거의 ATPG 알고리즘 D 알고리즘은 테스트 생성을위한 실용적인 솔루션을 제공했으며 기술의 발전으로 스펙트럼 자동 스펙트럼 생성기 (WASP)와 같은 많은 새로운 알고리즘은 복잡한 회로 테스트에서 잠재력을 보여주었습니다. 이러한 알고리즘은 테스트 속도를 높이고 테스트의 적용 범위를 향상시킵니다.
결론
위와 함께 ATPG의 개발은 기존 실패 모델과 신흥 나노 기술의 맥락에서 중요합니다. 지속적인 혁신적인 접근 방식은 테스트 품질을 향상시킬뿐만 아니라 미래의 전자 제품에 대한 더 높은 신뢰성과 안정성을 제공 할 수 있습니다. 이 빠르게 발전하는 기술 시대의 테스트 품질을 더욱 향상시키는 다른 방법이 있다고 생각하십니까?
