Language
Country/Area
No result found
nan
No mundo do design eletrônico, as técnicas de teste de falhas são frequentemente mencionadas, especialmente o método de geração automática de padrões de teste (ATPG). Essa tecnologia não apenas permite que os engenheiros capturem possíveis erros de circuito durante o processo de fabricação, mas também melhora a qualidade do produto final. O ATPG gera uma série de modos de teste, permitindo que o equipamento de teste identifique efetivamente comportamentos anormais durante a operação do circuito.
O efeito do ATPG é geralmente medido no número de falhas detectáveis e no número de modos de teste gerados.
De acordo com diferentes tipos de ATPG, essa tecnologia é dividida em duas categorias: lógica combinada ATPG e ATPG da lógica seqüencial. A lógica combinada ATPG tem como alvo principalmente testes independentes de linhas de sinal, enquanto a lógica seqüencial ATPG requer pesquisas mais complexas por possíveis sequências de vetores de teste.
A importância do modelo de falha
Modelo de falha refere -se à descrição de possíveis defeitos durante a fabricação em forma matemática. Através desses modelos de falhas, os engenheiros podem avaliar com mais eficácia o comportamento dos circuitos diante de quebrado ou instabilidade. Modelos de falhas atuais, como suposição de falha única e suposição de múltiplas falhas, as equipes entendem a possibilidade de falha e criam estratégias de teste mais eficazes.
Em alguns casos, uma falha não pode ser detectada.
Por exemplo, os modelos de falha de unidade (como falhas "Jammed") são um dos modelos de falha mais populares nas últimas décadas. Este modelo acredita que algumas linhas de sinal no circuito podem ser fixadas em um determinado valor lógico, independentemente de como outras entradas mudam. A combinação desses modelos de falha pode reduzir significativamente o número de testes necessários e melhorar a eficiência do teste.
Tipo de falha e detecção
As falhas podem ser divididas em muitos tipos, incluindo falhas de circuito aberto, falhas de atraso e falhas de curto -circuito. Esses diferentes tipos de falhas exigem o desenvolvimento de estratégias de teste correspondentes para garantir que as falhas possam ser efetivamente identificadas. As falhas de atraso podem causar operação anormal devido à propagação de sinal lento no caminho do circuito, o que é particularmente crítico nos projetos de alto desempenho.
Além disso, como o design tende à nanotecnologia, novos problemas de teste de fabricação se seguiram. À medida que os projetos se tornam cada vez mais complexos, a modelagem de falhas existente e as tecnologias de geração vetorial devem ser inovadoras para considerar as informações e o desempenho do tempo sob condições de design extremas.O impacto do ruído de diafonia e fonte de alimentação na confiabilidade e no desempenho não pode ser ignorado na verificação de design de hoje.
Evolução da tecnologia ATPG
algoritmos anteriores de ATPG, como algoritmos D, forneceram soluções práticas para geração de testes e, com o avanço da tecnologia, muitos novos algoritmos, como o gerador de espectro automático espectral (WASP), mostrou potencial no teste de circuitos complexos. Esses algoritmos não apenas aceleram a velocidade do teste, mas também melhoram a cobertura do teste.
Conclusão
Juntamente com o exposto, o desenvolvimento do ATPG é crucial no contexto de modelos de falha existentes e nanotecnologia emergente. Sua abordagem inovadora contínua pode não apenas melhorar a qualidade dos testes, mas também proporcionar maior confiabilidade e estabilidade para futuros produtos eletrônicos. Você acha que existem outras maneiras de melhorar ainda mais a qualidade dos testes nesta era de tecnologia em rápido desenvolvimento?
