Language
Country/Area
No result found
Язык описания периферийного сканирования (BSDL): как он делает процесс тестирования более эффективным?
В мире современной электроники периферийное сканирование имеет важное значение для тестирования межсоединений (линий) на печатных платах. В 1985 году Объединенная группа по тестированию (JTAG) разработала набор стандартов, сделавших технологию периферийного сканирования крупным достижением в отрасли. В рамках этой технологии язык описания периферийного сканирования (BSDL) является общепринятым стандартом с 1994 года, помогая компаниям, производящим электронные устройства, разрабатывать эффективные процессы тестирования.
Архитектуры граничного сканирования позволяют тестировать межсоединения, включая логические кластеры и память, без физических тестовых зондов.
Основная функция BSDL — предоставить четкое описание каждого устройства, поддерживающего IEEE Std 1149.1. Такое описание облегчает инженерам устранение неполадок, тестирование и проверку проектов. Таким образом, при возникновении проблем в процессе проектирования инженеры могут быстро локализовать проблему и избежать ненужной траты времени и ресурсов.
Эффективность механизма тестирования
Технология периферийного сканирования позволяет процессу тестирования напрямую контролировать входные и выходные контакты устройства. Эта технология позволяет тестировать электронные устройства в условиях плотной компоновки компонентов, что раньше было очень затруднительно. С помощью BSDL разработчики могут определять поведение каждого цифрового сигнала и использовать определенные тестовые векторы для управления сигналом и проверки ответа для подтверждения правильности соединения.
Используя BSDL, проектировщики могут генерировать тестовые векторы для системы, которые, в свою очередь, поддерживают эффективность процесса периферийного сканирования.
Внутренняя инфраструктура сканирования границ
Чтобы обеспечить возможность периферийного сканирования, производители ИС встраивают в свои устройства дополнительную логику, включая ячейки сканирования, которые подключаются к внешним контактам. Эти ячейки сканирования образуют внешний сдвигатель граничного сканирования (BSR) в сочетании с поддержкой контроллера порта тестового доступа JTAG (TAP). Это позволяет инженерам тестировать интегрированные компоненты так же легко и эффективно, как и отдельные микросхемы на печатной плате.
Кроме того, такие конструкции обычно встречаются в библиотеках Verilog или VHDL, где нагрузка на дополнительную логику минимальна, но выигрыш в повышении эффективности тестирования существенен.
Важность тестирования и отладки
В процессе тестирования проектировщики подают сигналы в схему в соответствии с различными тестовыми векторами и проверяют, соответствует ли выходной отклик ожидаемому. Этот процесс может использовать инструкцию EXTEST для проверки взаимосвязи между микросхемами, а также инструкцию INTEST для проверки внутренней логики микросхемы.
Объединив BSDL и «список соединений» проекта, можно автоматически генерировать тестовые приложения, что особенно эффективно в высокопроизводительных коммерческих тестовых системах JTAG.
Такие тестовые системы могут также принести пользу приложениям, не связанным с тестированием, таким как программирование различных типов флэш-памяти. Поскольку сегодня плотность размещения бортовых компонентов постоянно растет, существование этой технологии, несомненно, является большим подспорьем для конструкторов.
Будущее периферийного сканирования
Потенциал JTAG и периферийного сканирования продолжает расти. По мере роста требований к встраиваемым системам возможности тестирования и отладки, предоставляемые периферийным сканированием, будут становиться все более важными. BSDL может не только расширить охват тестированием, но и ускорить время вывода продукта на рынок и повысить конкурентоспособность на рынке.
Сколько потенциальных проблем в области электронного проектирования ждут своего решения с помощью технологии периферийного сканирования?
