Language
Country/Area
No result found
nan
В мире электронного дизайна часто упоминаются методы тестирования неисправностей, особенно метод генерации автоматического тестового образца (ATPG). Эта технология не только позволяет инженерам захватывать потенциальные ошибки цепи в процессе производства, но и улучшает качество конечного продукта. ATPG генерирует серию режимов тестирования, позволяя испытательному оборудованию эффективно идентифицировать аномальное поведение во время работы цепи.
Эффект ATPG обычно измеряется по количеству обнаруживаемых разломов и количеству сгенерированных тестовых режимов.
Согласно различным типам ATPG, эта технология разделена на две категории: комбинированная логика ATPG и последовательная логика ATPG. Комбинированная логика ATPG в основном нацелена на независимое тестирование линий сигналов, в то время как последовательная логическая ATPG требует более сложных поисков для возможных последовательностей векторов тестирования.
Важность модели сбоя
Модель разлома относится к описанию возможных дефектов во время производства в математической форме. Благодаря этим моделям сбоев инженеры могут более эффективно оценивать поведение цепей перед лицом сломанной или нестабильности. Текущие модели сбоев, такие как предположение о единичной обработке и многоупомянутая помощь, помогают командам понять возможность неудачи и создать более эффективные стратегии тестирования.
В некоторых случаях ошибка может быть вообще не обнаружена.
Например, модели сбоев единицы (такие как «заклиничные» сбои) являются одной из самых популярных моделей сбоев за последние десятилетия. Эта модель считает, что некоторые линии сигнала в схеме могут быть прикреплены к определенному логическому значению независимо от того, как изменяются другие входы. Комбинация этих моделей сбоев может значительно уменьшить количество необходимых тестов и повысить эффективность тестирования.
Тип неисправности и обнаружение
Неисправности можно разделить на многие типы, включая разломы открытых схем, разломы задержки и недостатки коротких замыканий. Эти различные типы сбоев требуют разработки соответствующих стратегий тестирования, чтобы гарантировать, что неисправности могут быть эффективно идентифицированы. Отказы задержки могут вызвать аномальную работу из-за медленного распространения сигнала в пути схемы, что особенно важно при высокопроизводительных конструкциях.
Влияние перекрестных помех и шума питания на надежность и производительность не может быть проигнорировано в сегодняшней проверке проектирования.
Кроме того, поскольку дизайн имеет тенденцию к нанотехнологиям, последовали новые проблемы с производственным тестированием. Поскольку проекты становятся все более сложными, существующие технологии моделирования разломов и генерации векторов должны быть инновационными, чтобы рассмотреть информацию о времени и производительность в условиях экстремальных проектов.
эволюция технологии ATPG
Прошлые алгоритмы ATPG, такие как алгоритмы D, предоставили практические решения для генерации тестов, и с развитием технологии многие новые алгоритмы, такие как спектральный генератор автоматического спектра (WASP), показали потенциал при тестировании сложных схем. Эти алгоритмы не только ускоряют скорость испытания, но и улучшают покрытие теста.
Заключение
Вместе с вышеизложенным развитие ATPG имеет решающее значение в контексте существующих моделей сбоев и новых нанотехнологий. Его постоянный инновационный подход может не только улучшить качество тестирования, но и обеспечить более высокую надежность и стабильность для будущих электронных продуктов. Как вы думаете, есть ли другие способы дальнейшего улучшения качества тестирования в эту быстро развивающуюся эпоху технологий?
