Với sự phát triển của vi điện tử, chúng ta đã bước vào kỷ nguyên của nano điện tử. Trong quá trình này, các phương pháp đo lường truyền thống không còn có thể đáp ứng được nhu cầu về các tính chất điện tử ở cấp độ nano. Hiện nay, kính hiển vi quét đường hầm đa đầu dò (Multi-tip STM) giống như một công cụ kỳ diệu, cho phép các nhà nghiên cứu đo các tính chất điện ở cấp độ nano. Sự ra đời của STM đa đầu dò cho phép chúng ta thực hiện các phép đo chính xác ở quy mô cực nhỏ, giống như khi sử dụng đồng hồ vạn năng, điều này đặc biệt quan trọng đối với khoa học vật liệu, khoa học nano và các công nghệ liên quan.
Trong bối cảnh phát triển nhanh chóng của công nghệ nano điện tử, các phép đo vận chuyển điện tử hiệu quả có ý nghĩa rất lớn, đặc biệt là đối với nghiên cứu và phát triển các cấu trúc nano. Các phương pháp tiếp xúc truyền thống thường dựa vào quang khắc, nhưng ở giai đoạn nghiên cứu, tiếp xúc bằng STM đa đầu dò có vẻ phù hợp hơn. Phương pháp này không chỉ có thể thực hiện các phép đo tại chỗ mà còn tránh hiệu quả các vấn đề ô nhiễm do quá trình quang khắc gây ra.
Vận hành STM nhiều đầu dò ở thang đo micrômet giống như vẽ tranh bằng các công cụ chính xác trong thế giới nano.
STM đa đầu dò thường bao gồm nhiều đơn vị STM, mỗi đơn vị có thể được điều khiển độc lập và định vị chính xác tại một vị trí xác định trên mẫu. Để giảm thiểu tác động của sự trôi nhiệt, các thiết bị này được thiết kế sao cho nhỏ gọn nhất có thể và tạo điều kiện quan sát chuyển động của chúng, do đó đảm bảo rằng mỗi đầu dò có thể tiếp xúc hiệu quả với mẫu. So với phương pháp tiếp xúc quang khắc, STM đa đầu dò có thể điều chỉnh linh hoạt sơ đồ tiếp xúc, giúp tăng đáng kể tính linh hoạt của nghiên cứu.
STM đa đầu dò đã cho thấy kết quả tuyệt vời trong việc nghiên cứu các đặc tính vận chuyển cục bộ của các dải nano graphene rộng 40 nm. Những dải nano này có thể đạt được độ dẫn điện đạn đạo trên vài micromet ở nhiệt độ phòng, điều này cung cấp hỗ trợ kỹ thuật mạnh mẽ cho các thiết bị điện tử nano trong tương lai.
Trong các nanodây GaAs lơ lửng tự do, STM đa đầu dò cho phép lập bản đồ chi tiết về phân bố điện trở. Điều này giúp nghiên cứu và phân tích các đặc tính pha tạp và hành vi điện của dây nano, giải quyết những thách thức mà các phương pháp truyền thống gặp phải.
Đo điện thế đường hầm quét (STP) là phương pháp cung cấp thông tin chi tiết sâu sắc về các đặc tính truyền điện tích bên trong các cấu trúc nano. Phương pháp này cung cấp bản đồ điện thế của mẫu bằng cách áp dụng dòng điện vào mẫu và đo sự thay đổi điện thế, giúp nghiên cứu tác động của các khuyết tật khác nhau đến quá trình truyền điện.
Khi kích thước của các thiết bị nano tiếp tục thu nhỏ, tác động của độ dẫn điện bề mặt đến hiệu suất tổng thể của thiết bị điện tử ngày càng trở nên rõ rệt hơn. Các nhà nghiên cứu đã sử dụng STM đa đầu dò để đánh giá độc lập độ dẫn điện bề mặt và độ dẫn điện khối của vật liệu nano thông qua phương pháp đo bốn đầu dò phụ thuộc vào khoảng cách.
STM đa đầu dò cũng có thể được sử dụng để phát hiện điện áp spin trong chất cách điện tôpô, điều này có ý nghĩa to lớn trong việc hiểu sự tương tác giữa các spin và ứng dụng của chúng trong điện tử. Nghiên cứu trong lĩnh vực này đang thúc đẩy sự tích hợp giữa vật lý cổ điển và vật lý lượng tử.
Phần kết luậnVới sự tiến bộ của công nghệ STM đa đầu dò, chúng ta đã hiểu biết sâu sắc hơn và ứng dụng được các phép đo điện ở cấp độ nano, và tiềm năng của nó chắc chắn sẽ dẫn dắt sự tiến bộ trong tương lai của công nghệ nano. Đối mặt với phương pháp đo lường có độ chính xác cao như vậy, bạn có bắt đầu cảm thấy những bí ẩn của thế giới nano đang mở ra với chúng ta không?