Language
Country/Area
No result found
nan
Trong thế giới thiết kế điện tử, các kỹ thuật kiểm tra lỗi thường được đề cập, đặc biệt là phương pháp tạo mẫu thử nghiệm tự động (ATPG). Công nghệ này không chỉ cho phép các kỹ sư nắm bắt các lỗi mạch tiềm năng trong quá trình sản xuất, mà còn cải thiện chất lượng của sản phẩm cuối cùng. ATPG tạo ra một loạt các chế độ thử nghiệm, cho phép thiết bị kiểm tra xác định hiệu quả các hành vi bất thường trong quá trình hoạt động của mạch.
Ảnh hưởng của ATPG thường được đo bằng số lượng lỗi có thể phát hiện và số lượng chế độ kiểm tra được tạo ra.
Theo các loại ATPG khác nhau, công nghệ này được chia thành hai loại: logic kết hợp ATPG và logic ATPG tuần tự. Logic kết hợp ATPG chủ yếu nhắm mục tiêu thử nghiệm độc lập các đường tín hiệu, trong khi logic tuần tự ATPG yêu cầu các tìm kiếm phức tạp hơn cho các chuỗi vectơ thử nghiệm có thể.
Tầm quan trọng của mô hình thất bại
Mô hình lỗi đề cập đến mô tả các khiếm khuyết có thể trong quá trình sản xuất ở dạng toán học. Thông qua các mô hình thất bại này, các kỹ sư có thể đánh giá hiệu quả hơn hành vi của các mạch khi bị hỏng hoặc không ổn định. Các mô hình thất bại hiện tại như giả định một lần và giả định đa failure giúp các nhóm hiểu khả năng thất bại và tạo ra các chiến lược thử nghiệm hiệu quả hơn.
Trong một số trường hợp, một lỗi có thể không được phát hiện.
Ví dụ, các mô hình thất bại đơn vị (như thất bại "kẹt") là một trong những mô hình thất bại phổ biến nhất trong những thập kỷ qua. Mô hình này tin rằng một số dòng tín hiệu trong mạch có thể được cố định với một giá trị logic nhất định bất kể các đầu vào khác thay đổi như thế nào. Sự kết hợp của các mô hình thất bại này có thể làm giảm đáng kể số lượng thử nghiệm cần thiết và cải thiện hiệu quả kiểm tra.
Loại lỗi và phát hiện
Các lỗi có thể được chia thành nhiều loại, bao gồm các lỗi mạch mở, lỗi trễ và lỗi ngắn mạch. Các loại thất bại khác nhau này đòi hỏi sự phát triển của các chiến lược thử nghiệm tương ứng để đảm bảo rằng các lỗi có thể được xác định một cách hiệu quả. Lỗi trì hoãn có thể gây ra hoạt động bất thường do sự lan truyền tín hiệu chậm trong đường mạch, điều này đặc biệt quan trọng trong các thiết kế hiệu suất cao.
Tác động của nhiễu xuyên âm và cung cấp năng lượng đối với độ tin cậy và hiệu suất không thể bị bỏ qua trong xác minh thiết kế ngày nay.
Ngoài ra, vì thiết kế có xu hướng đối với công nghệ nano, các vấn đề thử nghiệm sản xuất mới đã xảy ra. Khi các thiết kế ngày càng trở nên phức tạp, các công nghệ tạo vector và mô hình vector hiện có phải được đổi mới để xem xét thông tin thời gian và hiệu suất trong điều kiện thiết kế cực đoan.
Sự phát triển của công nghệ ATPG
Các thuật toán ATPG trong quá khứ như thuật toán D đã cung cấp các giải pháp thực tế để tạo thử nghiệm và với sự tiến bộ của công nghệ, nhiều thuật toán mới, chẳng hạn như trình tạo phổ tự động quang phổ (WASP), đã cho thấy tiềm năng trong việc thử nghiệm các mạch phức tạp. Các thuật toán này không chỉ tăng tốc độ kiểm tra mà còn cải thiện phạm vi bảo hiểm của bài kiểm tra.
Kết luận
Cùng với những điều trên, sự phát triển của ATPG là rất quan trọng trong bối cảnh các mô hình thất bại hiện có và công nghệ nano mới nổi. Cách tiếp cận sáng tạo liên tục của nó không chỉ có thể cải thiện chất lượng thử nghiệm mà còn cung cấp độ tin cậy và ổn định cao hơn cho các sản phẩm điện tử trong tương lai. Bạn có nghĩ rằng có nhiều cách khác để cải thiện hơn nữa chất lượng thử nghiệm trong kỷ nguyên phát triển nhanh chóng của công nghệ này không?
