在控制理论及稳定性分析的领域中,根轨迹分析作为一种图形化的方法,旨在探讨系统的根随着某一系统参数(通常为反馈系统中的增益变化)而发生的变化。此技术源自于沃尔特·R·爱文斯(Walter R. Evans)所发展的经典控制理论,并能有效地判断系统的稳定性。
根轨迹图呈现闭环传递函数的极点在复数s平面上的变化。
根轨迹不仅可用于判断系统稳定性,还能帮助设计反馈系统的阻尼比(ζ)和自然频率(ωn)。画出固定阻尼比的直线,自原点辐射出来,以及从原点辐射出的固定自然频率的弧线,能随之选择一个点来确定所需的系统增益K。透过此方式,设计者可接近所需的稳定性及动态性能,这在多种控制教科书中均有详细论述。
根轨迹的定义是系统在变化特定参数值下,闭环极点在复数s平面上的图形表示。
综观整个过程,根轨迹仪使控制工程师能够透过图形方式来鉴别和预测系统的行为。当设计的反馈系统具备明显的主极点对,根轨迹方法尤为有效。而在现实应用中,许多系统可能并不完全符合这项假设,因此,完成设计后进行模拟验证至关重要,以确保实际需求得到满足。
根轨迹分析的运作原理基于仪器的角度及幅度条件。若有一个反馈系统,其输入信号为X(s)
,输出信号为Y(s)
,则前向路径传递函数可表示为G (s)
,反馈路径传递函数为H(s)
。闭环传递函数则为 T(s) = Y(s) / X(s) = G(s) / (1 + G(s)H(s))
。
这表示闭环极点相对于特征方程的根为
1 + G(s)H(s) = 0
。
当然,系统没有纯延迟时,G(s)H(s)
的乘积可表示为有理多项式的形式。透过这样的分析,结合向量技术来计算各个极点和零点的角度,使我们可以透视系统的行为及动态范畴。
绘制根轨迹时,首先需要标示出开环的极点和零点,并标出在所有极点和零点左侧的实轴部分。进一步分析,当极点数量P减去零点数量Z时,会得到一条数量为 P-Z
的渐近线。这条渐近线会于实轴交于重心位置,向外的角度可由以下公式计算出来:
φ_l = 180° + (l - 1) * 360° / (P - Z)
,α = Re(ΣP - ΣZ) / (P - Z)
此外,还需要进行测试点相位的确认,以找出出发角与进入点。这些过程全面展现了根轨迹法的强大与应用潜力,带领我们更深入地探索系统的稳定性。
根轨迹的绘制及分析让控制系统工程师得以在复杂运算中提炼出关键信息,这不仅是理论的探讨,也是实务中的必备技能。面对未来的技术挑战,根轨迹分析是否能为我们揭开更深入的系统动态之谜呢?