光致發光(Photoluminescence,簡稱PL)是一種光的釋放現象,當物質吸收光子(電磁輻射)後會發生這種現象。這種現象的發生是由於光激發(photoexcitation),即光子激發原子內的電子至更高能量狀態,因此有了“光”的前綴。在激發發生後,各種釋放過程隨之進行,通常會重新輻射其他光子。吸收與發射之間的時間間隔長短不一,可能從短短的飛秒級時間(femtosecond)到毫秒(milliseconds),甚至特定情況下可延長至數分鐘或數小時。觀察在特定能量下的光致發光可被視為電子填補相應的激發態的一種指標。這一現象在原子及類似系統中通常成立,但在許多體系(如半導體)中,更複雜的現象和相關性也會成為光致發光的來源。
在光致發光過程中,共振激發顯示了一種特殊情況,即特定波長的光子被吸收,並以相同的波長迅速重新輻射。
光致發光的過程可以根據激發光子的能量與發射光子的能量進行分類。共振激發描述了一種情況,其中特定波長的光子被吸收後以等效的光子迅速重新發射,這種情況通常稱為共振熒光(resonance fluorescence)。在溶液或氣相的材料中,此過程涉及電子,但在吸收與發射之間不會有顯著的分子特徵內部能量轉移。在結晶的無機半導體中,由於其電子能帶結構的形成,二次發射過程則會更為複雜,因為事件可能包含相干貢獻(如共振瑞利散射)和非相干貢獻(如非彈性的模態)。這些過程可能包含來自於激子、庫倫束縛電子-孔對(electron-hole pair states)等的輻射重組,並且共振熒光也可能顯示出顯著的量子光學相關性。
從某種角度看,光致發光的研究是理解與探索材料內部動態過程的首要途徑之一。這些過程的詳細描述可以通過半導體光致發光方程進行。在半導體中,通常會用光源激發半導體,並測量從吸收過程中產生的光子的發射。這不僅能夠幫助我們理解光與物質的作用,還可以用於檢測半導體的純度與結晶質量。
光致發光是一項重要技術,用於測量如GaN和InP等半導體的純度以及量化系統中出現的無序程度。
透過時間解析光致發光(Time-Resolved Photoluminescence,TRPL)技術,研究人員能夠深入分析材料的電子動力學和載流子的壽命,特別是在III-V族半導體如砷化鎵(GaAs)中。TRPL技術通常涉及用光脈衝激發樣品,然後測量隨著時間推移光致發光的衰減情況,這為我們提供了許多有關於電子過程的資訊。
隨著材料科學和應用物理的進步,對光致發光現象和其導致的共振行為的關注愈發增加。例如,在理想的量子井結構中,可以方便地研究這些過程,因為其具有兩個量子化的電子和孔子子帶。這一理想模型使得科學家能夠更為清晰地觀察激發及放射過程中的細微變化。
共振激發的條件通常是激光的中心能量對應於量子井中最低的激子共振。
在半導體材料的研究中,內部缺陷與無序影響總是無法避免,這使得物質對激發與輻射的敏感度變化。因此,極大程度上增加光致發光壽命的現象發生於局部化的載流子,因為局部化的載流子不容易找到非輻射重組的中心。近年來,研究人員針對不同物質再次進行了檢測,尤其是聚焦於溫度對光致發光過程的影響。
氧化的光致發光技術不僅在物理、材料科學中有著深遠影響,更在化學領域中日益受到重視。許多技術如調制光致發光法(Modulated Photoluminescence)等,讓研究人員能夠使用這些光致發光信號來測量材料的複雜頻率響應,並進一步探索不同材料系統中的界面缺陷對過量載流子的重組影響。
光致發光的發現和理解不僅具有學術意義,還可能對未來的技術及應用帶來影響,新型高效能元件的開發,可能正是建立在這些基礎之上的。通過對材料內部運作機制的深入理解,我們或許可以設計出更具效能的發光材料,以應對未來科技的挑戰。那麼,你認為光致發光的進一步研究將如何影響未來的材料科學發展?