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揭秘核EMP的三大組成：E1、E2和E3如何影響你的電子產品？
核電磁脈衝（Nuclear Electromagnetic Pulse，簡稱NEMP）是由核爆炸所產生的一種電磁輻射爆發。當核武器在高空引爆時，隨之而來的電磁場波動會與各類電子設備產生耦合，進而造成潛在的電壓和電流激增，從而可能損壞電子產品。核EMP事件的具體特徵受到多種因素的影響，而最關鍵的因素就是引爆的高度。了解這三大EMP組成部分，對任何依賴電子設備的系統來說具有重要意義。
核EMP由三個主要組成部分構成：E1、E2和E3，其特性和影響如影響電腦、通信系統及電網等各類電子產品，值得我們深入探討。
核EMP的組成部分
核EMP可分為三個主要部分，分別為E1、E2和E3。E1為最快和最具破壞性的高空EMP組成部分，E2則是中等強度的EMP，而E3相對較慢，持續時間較長。
E1脈衝
E1脈衝是一個瞬時的高強度電磁場波動，會在瞬間在電導體中誘發高電壓。由於E1脈衝的變化速度極快，因此普通的電涌保護裝置無法為其提供有效的保護。
E1脈衝的產生與引爆核彈時釋放的伽馬輻射有關，該輻射將上層大氣中的原子離子化，並生成所謂的“康普頓電流”。
E2脈衝
E2脈衝是由散射的伽馬射線及中子的非彈性伽馬射線所產生的，持續時間約為一微秒到一秒。E2的特徵在於其與閃電具有相似之處，因此一般透過閃電防護技術可以實施防護。然而，由於E2脈衝通常緊接著E1脈衝之後出現，這使得原本可能保護設備的功能受到E1的損害，增加了潛在的風險。
E3脈衝
E3脈衝的持續時間長，可持續數十秒到數百秒，這部分主要是由於核爆炸對地球磁場的瞬時扭曲所造成。E3脈衝有類似於地磁風暴的特性，可能會在長距離的電導體中產生感應電流，損壞如變壓器等電力設備。
E3脈衝的影響可能與太陽引發的地磁風暴相似，並因此有時被稱為“太陽EMP”。
核EMP的歷史回顧
早在1945年美國進行第一次核試驗時，就已經意識到核爆炸會產生電磁脈衝。然而，這一現象的嚴重性並未立即被重視。直到1962年的“星魚一號”實驗，該實驗展示的高空核爆炸所造成的EMP影響，才使公眾開始認識到這一問題。
潛在的影響
隨著世界對核技術日益依賴，EMP的潛在破壞性越來越受到關注。E1、E2和E3三個組成部分不僅能影響計算機和通信設備，還可能對整個基礎設施造成破壞，從而引發連鎖反應。
國際電子技術委員會（IEC）表示，核EMP的三個組成部分對電子系統的破壞能力不容小覷。尤其是高空核爆炸可能引發大範圍電力系統的癱瘓，進一步影響地面運行。
應對措施
隨著對EMP議題的重視，各國愈加注重針對核EMP的防護技術。現今服務於基礎設施的設計應考慮到核EMP的影響，從而採取防護措施，包括使用電磁屏蔽和強化電力網設計等。
隨著科技的進步，保護我們的電子設備免受核EMP的損害仍然是一項重要挑戰。對此，人們不禁要思考：在日益複雜的電子世界中，我們能否找到更有效的防護方法來應對潛在的核EMP威脅？
