在現代電子設備中,場效應晶體管(FET)扮演著不可或缺的角色。而其中的結接式場效應晶體管(JFET)則是這些設備中的基本構建塊之一。JFET作為一種三端半導體器件,具備電子控制開關和電阻的功能,甚至能用來構建放大器。不同於雙極性接面晶體管(BJT),JFET是完全由電壓控制的,這意味著它不需要偏置電流,這一特點使得JFET在許多應用中具有極大的優勢。
JFET通常在其閘極與源極之間的電壓為零時導通,若施加適當極性的偏壓,則會減少電流的流動。
JFET的基本運作原理可以比擬於花園水管,水流的量可以通過收縮水管的直徑來進行控制。當在JFET的闸极和源极之間施加電壓時,會形成一個耗盡區該區域因缺乏可移動載流子而不再導電。隨著耗盡區的擴大,導電通道的橫截面減小,從而限制了電流的流通。當耗盡層足夠厚以至於完全跨越導電通道時,JFET便進入了所謂的「擠壓關閉」狀態。
JFET可以被視為一種耗盡型元件,依賴於耗盡區的原理來控制電流的流動。
JFET的發展歷程可追溯至20世紀初,尤利烏斯·里連費爾德(Julius Lilienfeld)在1920年代與1930年代先後申請了一系列類似FET的專利。真正的JFET於1945年由海因里希·韋克(Heinrich Welker)首次獲得專利。到1940年代,諾貝爾獎得主約翰·巴丁(John Bardeen)、華特·布拉特(Walter Houser Brattain)和威廉·肖克利(William Shockley)也在研發FET,不過當時的技術尚未成熟,接連失敗。最終,1952年,肖克利提出的理論推導的JFET在1953年由喬治·C·戴西(George C. Dacey)與伊恩·M·羅斯(Ian M. Ross)成功建造出來。
1950年,日本工程師西澤純一(Jun-ichi Nishizawa)和渡邊義男(Y. Watanabe)為一種類似裝置申請了專利,此裝置被稱為靜態誘導晶體管(SIT)。
JFET的基本結構是由一長段摻雜的半導體材料構成,這些材料可能是p型或n型的半導體。每端形成歐姆接點,分別為源(S)和漏(D)。在該半導體通道的兩側或周圍形成了一個pn接面,並通過歐姆閘極接點(G)來偏置其電壓。
與其他場效應晶體管相比,JFET在室溫下的閘極電流(即閘極到通道接面的反向漏電流)與MOSFET相當,但遠低於雙極性接面晶體管的基極電流。JFET的跨導(transconductance)高於MOSFET,同時擁有低的閃爍噪聲,因而在某些低噪聲和高輸入阻抗的運算放大器中被予以使用。
由於JFET在電路中具有極高的輸入阻抗,因此對於用作輸入的電路僅需消耗微量的電流。
隨著技術的演進,特別是2008年商業化的碳化矽(SiC)寬帶隙器件的推出,使得JFET在高速度、高電壓開關應用中變得可行。儘管早期SiC JFET的生產存在困難,但如今這些問題已基本解決,並廣泛應用於與傳統低電壓的硅MOSFET搭配使用的場景中。
隨著電子技術的發展,JFET技術也將迎來更多的應用和挑戰。我們是否能期待JFET在未來的電子器件中發揮更大的作用和潛力?