隨著科技的快速進步,微芯片的功能日益強大,這一切都歸功於銅電路的崛起。自1997年起,銅電路首次由IBM與摩托羅拉合作推出,成為集成電路中相較於傳統鋁電路的一大進步。
銅的導電性優於鋁,這使得使用銅的集成電路能夠實現更小的導線尺寸,從而降低電能消耗,達到更好的性能。
這一轉變不僅提升了微芯片的性能,還要求相應的製造技術作出重大改革。此外,銅的應用促使製造商開發全新的模式,以確保金屬導線的清晰且精度無誤。為達到這一點,科學家們創造了稱為「Damascene工藝」的模式,這是對傳統金屬鑲嵌技術的現代化解讀。
傳統的銅電路製擠工藝面對最大的挑戰是無法利用等離子體蝕刻銅材,這一缺憾促使專家重新思考了金屬模式化過程。此過程不再是傳統的減法工藝,而是轉為加法工藝,首先在絕緣層的矽氧化物上開槽,再將銅填入。
Damascene工藝使得銅材料的成功填充能夠達成,藉此在半導體內形成多層互連結構,從而提高儲存與處理效率。
然而,銅的特性也帶來了挑戰,其中最關鍵的便是銅原子向周圍材料的擴散問題。由於銅會对矽造成「毒害」,因此需要阻隔金屬層以限製銅原子的擴散。裁定阻隔金屬層的厚度至關重要,太薄可能失去作用,而太厚則會導致整體電阻增大,無法發揮銅的優勢。科學家們不斷尋求新材料來取代傳統的阻隔金屬。
銅在電遷移方面的表現優於鋁,使得在相同大小下可以通過更大電流。這種特性對微芯片的穩定性至關重要,尤其是在未來日益增長的數據需求面前。
電遷移對金屬導線的影響顯著,不良的電遷移抗性可能導致導線變形甚至斷裂,而銅展示出更高的抗性,促進了其在更高數據流量環境中的應用。
隨著製程技術的進一步提升,2005年時處理器的頻率突破了3GHz,這所引致的問題便是互連的電容耦合成為了速度的限制因素。因此,結合使用低電阻的銅與低介電常數材料的技術開始蓬勃發展,形成了一場「銅革命」。
從集成電路中使用銅的初期,到如今其已成為微芯片的核心材料,這一過程見證了科學技術的奇妙演變。而隨著製造技術的進步,未來可能還會出現更具潛力的材料,如果銅遭遇到自身物理極限,或者在高效能運作環境中遇到新挑戰,又會有哪種金屬或材料來取而代之呢?
銅電路的成功不僅意味著技術的改變,更代表了無數可能性的開啟,人類對於微芯片的研發,是否會引領到下一個技術的突破呢?