Language
Country/Area
No result found
nan
電子設計の世界では、断層テスト技術、特に自動テストパターン生成の方法（ATPG）がよく言及されています。このテクノロジーにより、エンジニアは製造プロセス中に潜在的な回路エラーをキャプチャできるだけでなく、最終製品の品質も向上させることができます。 ATPGは一連のテストモードを生成し、テスト機器が回路の操作中に異常な動作を効果的に識別できるようにします。
ATPGの効果は、通常、検出可能な障害の数と生成されたテストモードの数で測定されます。
さまざまなタイプのATPGによると、このテクノロジーは、組み合わせロジックATPGと連続ロジックATPGの2つのカテゴリに分けられます。組み合わせロジックATPGは、主に信号線の独立したテストをターゲットにしますが、シーケンシャルロジックATPGには、可能なテストベクターシーケンスをより複雑な検索が必要です。
故障モデルの重要性
故障モデルとは、数学的な形式での製造中の可能性のある欠陥の説明を指します。これらの障害モデルを通じて、エンジニアは、壊れたまたは不安定性に直面した回路の挙動をより効果的に評価できます。シングルフェイルの仮定やマルチフェイルの仮定などの現在の障害モデルは、チームが障害の可能性を理解し、より効果的なテスト戦略を作成するのに役立ちます。
場合によっては、障害がまったく検出されない場合があります。
たとえば、単位障害モデル（「詰まった」障害など）は、過去数十年で最も人気のある障害モデルの1つです。このモデルは、他の入力の変化に関係なく、回路内の一部の信号線が特定のロジック値に固定される可能性があると考えています。これらの障害モデルの組み合わせは、必要なテストの数を大幅に削減し、テスト効率を改善できます。
障害タイプと検出
断層は、開回路障害、遅延障害、短絡障害など、多くのタイプに分けることができます。これらの異なるタイプの障害には、障害を効果的に特定できるように、対応するテスト戦略の開発が必要です。遅延障害は、回路パスでの信号伝播が遅いため、異常な動作を引き起こす可能性があります。これは、高性能設計で特に重要です。
今日の設計検証では、信頼性とパフォーマンスに対するクロストークと電源ノイズの影響を無視することはできません。
さらに、設計はナノテクノロジーに向かう傾向があるため、新しい製造テストの問題が続きました。設計がますます複雑になるにつれて、極端な設計条件下で時間情報とパフォーマンスを検討するために、既存の障害モデリングとベクトル生成技術は革新的でなければなりません。
ATPGテクノロジーの進化
Dアルゴリズムなどの過去のATPGアルゴリズムは、テスト生成のための実用的なソリューションを提供し、技術の進歩により、スペクトル自動スペクトルジェネレーター（WASP）などの多くの新しいアルゴリズムが、複雑な回路のテストで可能性を示しています。これらのアルゴリズムは、テスト速度を高速化するだけでなく、テストのカバレッジを改善します。
結論
上記とともに、ATPGの開発は、既存の障害モデルと新たなナノテクノロジーのコンテキストで重要です。その継続的な革新的なアプローチは、テストの品質を改善するだけでなく、将来の電子製品の信頼性と安定性を高めることもできます。この急速に発展しているテクノロジーの時代におけるテストの品質をさらに向上させる他の方法があると思いますか？
