Bucksch Thorsten | Researchain

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Publication

Featured researches published by Bucksch Thorsten.

Archive | 2003

Verfahren und Einrichtung zum Testen einer Speicherschaltung

Bucksch Thorsten; Schneider Ralf

Archive | 2005

Testing device for wafer testing of digital semiconductor circuits with signal amplifiers inserted in test signal channels for eliminating signal attentuation and noise

Bucksch Thorsten

Archive | 2005

Semi-conductor component test procedure, as well as a data buffer component

Bucksch Thorsten

Archive | 2002

Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Setup-Zeit und Hold-Zeit von Signalen einer Schaltung mit getakteter Datenübertragung

Bucksch Thorsten; Schneider Ralf

Archive | 2018

NON-VOLATILE MEMORY TESTING

Bucksch Thorsten

Archive | 2007

Semiconductor component e.g. static RAM, testing method, involves transmitting test-signal applied to terminal of component to another terminal of component instead of switching core during test operating mode of component

Bucksch Thorsten

Archive | 2006

Device and a process for the calibration of a semiconductor component test system, in particular of a probe card and/or of a semiconductor component test apparatus

Bucksch Thorsten

Archive | 2006

Einrichtung und Verfahren zum Kalibrieren eines Halbleiter-Bauelement-Test-Systems, insbesondere einer probecard bzw. eines Halbleiter-Bauelement-Testgeräts

Bucksch Thorsten

Archive | 2005

Kontaktplatte zur Verwendung bei einer Kalibrierung von Testerkanälen eines Testersystems sowie ein Kalibriersystem mit einer solchen Kontaktplatte

Bucksch Thorsten

Archive | 2005

Halbleiter-Bauelement-Test-Verfahren, sowie Daten-Zwischenspeicher-Bauelement

Bucksch Thorsten

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Dive into the Bucksch Thorsten's collaboration.

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Schneider Ralf

Infineon Technologies

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Verfahren und Einrichtung zum Testen einer Speicherschaltung

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Semi-conductor component test procedure, as well as a data buffer component

Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Setup-Zeit und Hold-Zeit von Signalen einer Schaltung mit getakteter Datenübertragung

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Semiconductor component e.g. static RAM, testing method, involves transmitting test-signal applied to terminal of component to another terminal of component instead of switching core during test operating mode of component

Device and a process for the calibration of a semiconductor component test system, in particular of a probe card and/or of a semiconductor component test apparatus

Einrichtung und Verfahren zum Kalibrieren eines Halbleiter-Bauelement-Test-Systems, insbesondere einer probecard bzw. eines Halbleiter-Bauelement-Testgeräts

Kontaktplatte zur Verwendung bei einer Kalibrierung von Testerkanälen eines Testersystems sowie ein Kalibriersystem mit einer solchen Kontaktplatte

Halbleiter-Bauelement-Test-Verfahren, sowie Daten-Zwischenspeicher-Bauelement

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