Christian Worsch
University of Jena
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Publication
Featured researches published by Christian Worsch.
JOT Journal für Oberflächentechnik | 2017
Marcel Kleßen; Christian Worsch; Sophie Gottschall; Michael Flämmich
Insbesondere Zulieferteile können sehr verschiedene Sauberkeitszustände aufweisen. So können beispielsweise Teile für eine zum Einsatz kommende Standardreinigung zu hohe Verschmutzungsgrade aufweisen. Es können sich auch Rückstände von Fertigungshilfsmitteln (FHM) der Zulieferer auf den Teilen befinden, für die der Standardreinigungsprozess nicht angepasst ist. Häufig ist dann die Reinigungswirkung nicht ausreichend, was zusätzliche Schritte in Form weiterer Reinigungsdurchläufe oder manueller Nacharbeiten nötig macht. Bei fehlender oder ungeeigneter Sauberkeitsprüfung besteht das Risiko, dass störende Rückstände unerkannt auf der Bauteiloberfläche verbleiben. Dies kann in nachfolgenden Fügeund Veredelungsprozessen oder beim Endanwender zu Störungen führen und hohe wirtschaftliche Schäden verursachen. Hinzu kommt die Gefahr, dass durch stark verschmutzte Bauteile die Prozessumgebung selbst kontaminiert wird – besonders kritisch ist ein solches Szenario in empfindlichen Reinraumumgebungen.
JOT Journal für Oberflächentechnik | 2016
Michael Flämmich; Christian Worsch; Marcel Kleßen; Ute Bergner
U Fertigungsund Reinigungsprozesse zu optimieren, ist die Kenntnis der Sauberkeit beziehungsweise des Verschmutzungsgrades der Bauteile eine wesentliche Voraussetzung. Dabei geht es längst nicht mehr allein um partikuläre Verunreinigungen, für die es bereits etablierte Nachweismethoden sowie standardisierte Vorgehensweisen gibt. Auch chemisch/ lmische Verunreinigungen gilt es, einfach, zerstörungsfrei und geometrieunabhängig sowohl qualitativ als auch quantitativ at-line – also nah an der Prozesskette – nachzuweisen.
JOT Journal für Oberflächentechnik | 2016
Christian Worsch; Marcel Kleßen; Sophie Gottschall; Michael Flämmich; Ute Bergner
Das Messgerät mit der Bezeichnung Vidam erfasst solche filmischen Verunreinigungen integral. Das heißt: Restschmutzmengen können auf der gesamten Oberfläche einzelner Bauteile oder ganzer Baugruppen mit beliebiger Geometrie nachgewiesen werden. Das Gerät zeichnet sich insbesondere durch seine einfache Bedienbarkeit aus – sowohl Messung als auch Auswertung laufen vollautomatisch ab. Es ist kein Spezialist erforderlich, um die Verunreinigung messtechnisch zu erfassen. Vidam misst Verunreinigungen darüber hinaus zerstörungsfrei. Es kann somit zu Prüfund Bewertungszwecken direkt im oder sehr nah am laufenden Prozess („in-line“ oder „at-line“) eingesetzt werden. Auf diese Weise ist es möglich, die geprüften Bauteile anschließend direkt weiterzubearbeiten. Eine Variante des Vidam-Geräts ist in Bild 1 dargestellt. Hinter der Tür (im Bild rechts oben) befindet sich die Vakuumkammer, in die die zu prüfenden Bauteile eingebracht werden. An die Kammer sind ein Vakuumpumpsystem sowie die Messtechnik zur Detektion der Verunreinigungen und die Anlagensteuerung mit implementierter Datenaufzeichnung und -auswertung angeschlossen. Mit diesem kompakten Aufbau können filmische Verunreinigungen von der BauteiloberBild 1 > Das kompakte und mobile Sauberkeitsmessgerät lässt sich auch für At-lineMessungen in der Prozessumgebung nutzen.
Thin Solid Films | 2012
Christian Worsch; Michael Kracker; Wolfgang Wisniewski; Christian Rüssel
Journal of Materials Science | 2013
Christian Worsch; Markus Büttner; Peter Schaaf; Ruzha Harizanova; Christian Rüssel; F. Schmidl; P. Seidel
Applied Surface Science | 2012
Christian Worsch; Wolfgang Wisniewski; Michael Kracker; Christian Rüssel
Journal of Materials Science | 2012
Christian Worsch; Peter Schaaf; Ruzha Harizanova; Christian Rüssel
Microsystem Technologies-micro-and Nanosystems-information Storage and Processing Systems | 2010
Jan Edelmann; Christian Worsch; Andreas Schubert; Christian Rüssel
Materials Chemistry and Physics | 2015
Lianbing Zhong; Limeng Liu; Christian Worsch; Jesus Gonzalez; André Springer; Feng Ye
Journal of Nanoparticle Research | 2013
Michael Kracker; Christian Worsch; Christian Rüssel