在当今科技飞速发展的潮流中,矽晶片的制造工艺不断演变,而直接键合技术作为关键技术之一,近年来受到了广泛关注。这种技术的核心在于,它能在不使用任何中间层的情况下,直接将两片晶圆结合在一起,利用化学键合的原理,因此有时也称为「融合键合」。
直接键合的过程中,晶圆表面需要达到足够的洁净度、平整性和光滑度,以避免形成空洞或界面气泡等问题。
直接键合的过程可以分为晶圆预处理、室温下的预键合及高温退火三个主要步骤。尽管此技术对几乎所有材料均可适用,但迄今为止,矽晶片仍是最成熟且广泛应用的材料。这一技术的应用场景涵盖了矽氧化物晶片的制造、各类传感器及驱动器等。
矽的直接键合是基于表面之间的分子间相互作用,包括范德瓦尔斯力及氢键等。传统的直接键合技术通常需高温进行,但随着技术的发展,许多研究者开始试图降低过程温度,以适应不同材料的热膨胀系数。例如,目标是在450°C以下实现稳定且密封的直接键合,同时进行表面活化的技术研发,如等离子体处理和化学机械抛光(CMP)。
早在1734年,Desaguliers首先提到平滑固体表面的附着效应。他的研究表明,当固体表面更为光滑时,两者之间的摩擦力会有所降低,当达到一定光滑程度后,摩擦则会再次上升,固体表面会相互附着。 1986年,J. B. Lasky等人首次发表有关矽直接键合的成功报告,为此技术的进步奠定了基础。
在进行亲水性矽晶圆键合前,需要先确保表面洁净,以避免有机和离子污染物的干扰。通常利用等离子体处理或UV/臭氧清洗等方法达到预处理的要求,然后再进行室温下的键合。在接触之后,通过氢氧分子间的交联反应,形成强健的Si-O-Si键合力,从而达到可操作的强度。
对于疏水性矽晶圆,其表面经氟化物等化学溶液处理,以避免再亲水化。此时键合主要依赖氢和氟原子之间的范德瓦尔斯力。在室温下进行键合后,再透过退火过程强化化学键合,最终形成稳定的Si-Si键合,实现高效的制造工艺。
除了传统的直接键合方法,低温直接键合的技术也逐步受到重视,尤其是在不同材料之间的热膨胀系数不匹配的情况下。研究旨在有效降低所需的退火温度,使其在预先处理的晶圆上,以及复合材料的结合过程中不会导致降解或改变其性能。
直接键合技术在微机电系统(MEMS)的制作中扮演着至关重要的角色,例如加速度计、微型阀门和微型泵等。它的灵活性及高效性,使其成为未来晶圆级制造的重要选择。
随着电子设备需求的不断增加及技术的进步,直接键合技术是否能克服目前的挑战,成为更广泛应用的解决方案?