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Kuhn Justus

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Featured researches published by Kuhn Justus.

Archive | 2002

Verfahren und Vorrichtung zum Einlesen und zur Überprüfung der zeitlichen Lage von aus einem zu testenden Speicherbaustein ausgelesenen Datenantwortsignalen

Ernst Wolfgang; Krause Gunnar; Kuhn Justus; Luepke Jens; Mueller Jochen; Poechmueller Peter; Schittenhelm Michael

Archive | 2003

Testschaltung zum Testen einer synchronen Schaltung

Ernst Wolfgang; Krause Gunnar; Kuhn Justus; Luepke Jens; Mueller Jochen; Poechmueller Peter; Schittenhelm Michael

Archive | 2002

System zum Test schneller synchroner Halbleiterschaltungen

Ernst Wolfgang; Krause Gunnar; Kuhn Justus; Lupke Jens; Mueller Jochen; Poechmueller Peter; Schittenhelm Michael

Archive | 2006

Verfahren sowie Vorrichtung zur synchronen Signalübertragung zwischen Logik-/Speicherbausteinen

Ruckerbauer Hermann; Thiele Frank; Kuhn Justus

Archive | 2006

System zum Test von schnellen integrierten Digitalschaltungen und BOST-Halbleiterschaltungsbaustein als Testschaltkreis

Ernst Wolfgang; Krause Gunnar; Kuhn Justus; Lupke Jens; Mueller Jochen; Poechmueller Peter; Schittenhelm Michael

Archive | 2002

System zum Test von schnellen integrierten Digitalschaltungen, insbesondere Halbleiterspeicherbausteinen

Ernst Wolfgang; Krause Gunnar; Kuhn Justus; Lupke Jens; Mueller Jochen; Poechmueller Peter; Schittenhelm Michael

Archive | 2001

Adresszähler zur Adressierung von synchronen hochfrequenten Digitalschaltungen, insbesondere Speicherbauelementen

Ernst Wolfgang; Krause Gunnar; Kuhn Justus; Luepke Jens; Mueller Jochen; Poechmueller Peter; Schittenhelm Michael

Archive | 2006

System zum Test integrierter digitaler Halbleiterbauelemente

Ernst Wolfgang; Krause Gunnar; Kuhn Justus; Lupke Jens; Mueller Jochen; Poechmueller Peter; Schittenhelm Michael

Archive | 2003

Verfahren sowie Vorrichtung zur synchronen Signalübertragung zwischen mindestens zwei Logik-/Speicherbausteinen

Ruckerbauer Hermann; Thiele Frank; Kuhn Justus

Archive | 2002

Integrated digital semiconductor components testing system e.g. for semiconductor memories, has built outside self-test module that adjusts to time requirement of semiconductor to be tested

Ernst Wolfgang; Krause Gunnar; Kuhn Justus; Lupke Jens; Mueller Jochen; Poechmueller Peter; Schittenhelm Michael

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Mueller Jochen

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Ernst Wolfgang

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Krause Gunnar

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Poechmueller Peter

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Schittenhelm Michael

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Luepke Jens

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Lupke Jens

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Ruckerbauer Hermann

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Spirkl Wolfgang

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Thiele Frank

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