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Dive into the research topics where Minoru Noguchi is active.

Publication


Featured researches published by Minoru Noguchi.


Archive | 2000

Defect inspecting device and method

Shuichi Chikamatsu; Takahiro Jingu; Yukio Kenbo; Shunichi Matsumoto; Ryoji Matsunaga; Yoshio Morishige; Hisato Nakamura; Takanori Ninomiya; Hidetoshi Nishiyama; Minoru Noguchi; Yoshimasa Oshima; Shigetoshi Sakai; Tetsuya Watanabe; 寿人 中村; 隆典 二宮; 良正 大島; 俊一 松本; 良治 松永; 良夫 森重; 哲也 渡邊; 孝広 神宮; 英利 西山; 行雄 見坊; 秀一 近松; 恵寿 酒井; 稔 野口


Archive | 2002

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Rei Hamamatsu; Takahiro Jingu; Toshihiko Nakada; Hidetoshi Nishiyama; Minoru Noguchi; Yoshimasa Oshima; Yukio Uto; Masahiro Watanabe; 俊彦 中田; 良正 大島; 幸雄 宇都; 玲 浜松; 正浩 渡辺; 孝広 神宮; 英利 西山; 稔 野口


Archive | 2006

Surface inspection device and its method

Yasuo Hachikake; Ichiro Ishimaru; Yukio Kenbo; Ichiro Moriyama; Minoru Noguchi; Yoshikazu Tanabe; Yoji Tsuchiyama; Kenji Watanabe; 保夫 八掛; 洋史 土山; 健二 渡辺; 義和 田辺; 一郎 盛山; 伊知郎 石丸; 行雄 見坊; 稔 野口


Archive | 2003

Method for inspecting defect and apparatus therefor

Rei Hamamatsu; Takahiro Jingu; Hidetoshi Nishiyama; Minoru Noguchi; Yoshimasa Oshima; Kenji Watanabe; Tetsuya Watanabe; 良正 大島; 玲 浜松; 哲也 渡▲邉▼; 健二 渡辺; 孝広 神宮; 英利 西山; 稔 野口


Archive | 2001

Defect inspection management system and defect inspection system and apparatus of electronic circuit pattern

Shunji Maeda; Minoru Noguchi; Hiroto Okuda; Makoto Ono; Yoshimasa Oshima; Yuji Takagi; Masahiro Watanabe; 俊二 前田; 良正 大島; 浩人 奥田; 眞 小野; 正浩 渡辺; 稔 野口; 裕治 高木


Archive | 1999

Method and device for measuring film thickness of thin film and method and device for manufacturing thin film device using the same

Takeshi Hirose; Fumiyuki Kanai; Yukio Kenbo; Takanori Ninomiya; Minoru Noguchi; Mineo Nomoto; Yoji Tsuchiyama; 隆典 二宮; 洋史 土山; 丈師 廣瀬; 行雄 見坊; 稔 野口; 峰生 野本; 史幸 金井


Archive | 1993

Foreign matter inspecting device and method

Yukio Kenbo; Kazuhiko Matsuoka; Norihiro Minamitani; Hiroshi Morioka; Hidetoshi Nishiyama; Minoru Noguchi; Yoshimasa Oshima; Yoshiharu Shigyo; 法宏 南谷; 義春 執行; 良正 大島; 一彦 松岡; 洋 森岡; 英利 西山; 行雄 見坊; 稔 野口


Archive | 2000

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, INSPECTION CONDITION OBTAINING METHOD, SELECTION METHOD THEREOF, AND INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR

Rei Hamamatsu; Yoshio Morishige; Takanori Ninomiya; Hidetoshi Nishiyama; Minoru Noguchi; Kenji Oka; Yoshimasa Oshima; Maki Tanaka; Kenji Watanabe; Tetsuya Watanabe; 隆典 二宮; 良正 大島; 健次 岡; 良夫 森重; 玲 浜松; 健二 渡辺; 哲也 渡邊; 麻紀 田中; 英利 西山; 稔 野口


Archive | 1993

Defect detecting device and method thereof

Yukio Kenbo; Kazuhiko Matsuoka; Hiroshi Morioka; Hidetoshi Nishiyama; Minoru Noguchi; Yoshimasa Oshima; Yoshiharu Shigyo; 義春 執行; 良正 大島; 一彦 松岡; 洋 森岡; 英利 西山; 行雄 見坊; 稔 野口


Archive | 2005

Defect inspection device and method

Shuichi Chikamatsu; Takahiro Jingu; Yukio Kenbo; Shunichi Matsumoto; Ryoji Matsunaga; Yoshio Morishige; Hisato Nakamura; Takanori Ninomiya; Hidetoshi Nishiyama; Minoru Noguchi; Yoshimasa Oshima; Shigetoshi Sakai; Tetsuya Watanabe; 寿人 中村; 隆典 二宮; 良正 大島; 俊一 松本; 良治 松永; 良夫 森重; 哲也 渡邊; 孝広 神宮; 英利 西山; 行雄 見坊; 秀一 近松; 恵寿 酒井; 稔 野口

Collaboration


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