Hidehiro Goto

Spectrometric determination of various metals by high-frequency plasma torch

SummarySeveral analytical conditions and detection limits of various metal elements were examined with regard to the determination of these elements by photoelectric spectrometry in the combination of high-frequency plasma torch apparatus and Ebert-type grating spectrometer (GE-340), using nitrogen as the carrier gas. All the calibration curves for the elements showed good linearity and standard deviations of calcium, zinc, tin, lead, and bismuth were in the range of 1.0–3.2%. It was found that, among the various elements, aluminium, zinc, tungsten, and lead, which are difficult to be determined by flame-spectrometric analysis, can be determined with good sensitivity and high precision by the present method.ZusammenfassungZur spektrometrischen Bestimmung verschiedener Metalle wird eine Kombination von hochfrequenter Plasmaflamme und Gitterspektrometer vom Ebert-Typ (GE-340) benutzt, wobei Stickstoff als Trägergas dient. Alle Eichkurven weisen eine gute Linearität auf; die Standardabweichungen für Ca, Zn, Sn, Pb und Bi liegen im Bereich von 1,0 bis 3,2%. Al, Zn, W und Pb, deren Bestimmung nach der flammenspektrometrischen Methode Schwierigkeiten bereitet, können mit Hilfe des beschriebenen Verfahrens mit guter Empfindlichkeit und hoher Genauigkeit bestimmt werden.

Effect of backing metals in the X-ray fluorescence spectral analysis of metal films and its application

SummaryThe enhancement effect of the backing metal on the x-ray intensity of an element in a film has been studied. This effect is dependent on the wave length of the x-ray absorption edge of the element in the film. In the case of nickel film, the infinite thickness at which this effect is lost is about 20μ, and the infinite thickness is independent on the kind of backing metals. It has also been recognized that this enhancement effect is convenient for increasing the x-ray intensity of small amounts of an element. The application of this effect has been demonstrated for the determination of small amounts of nickel and cobalt, which were concentrated in an organic precipitate.ZusammenfassungDie verstärkende Wirkung des Grundmetalls auf die Röntgenstrahlenintensität eines Elementes in einem Überzugsfilm wurde untersucht. Diese Wirkung ist abhängig von der Wellenlänge der Röntgenabsorptions-kante des Elementes im Überzug. Im Falle eines Nickelüberzugs beträgt die Dicke, bei der diese Wirkung aufhört, etwa 20μ. Diese Dicke ist unabhängig von der Art des Grundmetalls. Die Erscheinung kann zur Erhöhung der Röntgenfluorescenzintensität kleiner Mengen eines Elementes benutzt werden. Als Anwendungsbeispiel wird die Bestimmung kleiner Mengen Nickel und Kobalt beschrieben, die in einem organischen Niederschlag konzentriert wurden.

Simultaneous determination of alloy film thickness and its composition with X-Ray fluorescent spectroscopy

SummaryThe simultaneous determination of composition and thickness of alloy film especially nickel-iron alloy plated on copper was investigated. From the results, the equations (A) and (B) which were derived from Theoretical equations1 and experiments gave a good applicability. The equation (A) is suitable for thickness below about 2 micron and (B) especially for below about 0.1 micron.

Extraction of reduced molybdosilicic acid and its application to the determination of traces of silicon

\begin{gathered} \left( {0.282 - 0.39 w_{{\text{Fe}}} } \right) \cdot \log \left( {1 - I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Fe}}} = \left( {0.39 w_{{\text{Fe}}} + 0.008} \right) \cdot \log \left( {1 - I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Ni}}} \hfill \\ \log \left( {1 - I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Fe}}} = - 0.434\left( {0.39 w_{{\text{Fe}}} + 0.008 } \right) \cdot d \left( {\text{A}} \right) \hfill \\ \left( {I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Fe}}} = \left( {0.397w_{{\text{Fe}}} + 0.005} \right) \cdot d \hfill \\ \left( {I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Ni}}} = \left( {0.306 - .0507w_{{\text{Fe}}} } \right) \cdot d \left( {\text{B}} \right) \hfill \\ \end{gathered}

Emission spectrographic analysis by low-voltage impulse discharge

It was necessary to consider the influence of the backing material upon the films.ZusammenfassungEs wird ein röntgenfluorescenzspektroskopisches Verfahren zur gleichzeitigen Bestimmung der Zusammensetzung und der Dicke von Legierungsüberzügen (speziell Nickel-Eisen) auf Kupfer beschrieben. Mit Hilfe der nachstehend aufgeführten Gleichungen (A) und (B) wurden gute Ergebnisse erhalten. Gleichung (A) ist für Schichtdicken unter etwa 2 μ und Gleichung (B) für solche unter 0.1 μ geeignet:

Determination of Microquantities of Manganese in Iron, Steel and Some Non-Ferrous Metals by Extraction and Absorption Photometry

\begin{gathered} \left( {0.282 - 0.39 w_{{\text{Fe}}} } \right) \cdot \log \left( {1 - I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Fe}}} = \left( {0.39 w_{{\text{Fe}}} + 0.008} \right) \cdot \log \left( {1 - I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Ni}}} \hfill \\ \log \left( {1 - I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Fe}}} = - 0.434\left( {0.39 w_{{\text{Fe}}} + 0.008 } \right) \cdot d \left( {\text{A}} \right) \hfill \\ \left( {I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Fe}}} = \left( {0.397w_{{\text{Fe}}} + 0.005} \right) \cdot d \hfill \\ \left( {I_d /I_\infty } \right)_{{\text{Ni}}} = \left( {0.306 - .0507w_{{\text{Fe}}} } \right) \cdot d \left( {\text{B}} \right) \hfill \\ \end{gathered}