Tatsuo Ikawa

Multiport memory with test signal generating circuit controlling data transfer from ram port to sam port

Operation mode setting circuit for dram

Multiport memory with improved timing of word line selection

Function selector circuit

Data output circuit for semiconductor integrated circuit device

Semiconductor memory with failure handling circuit

Halbleiterspeicher mit Fehlerbehandlungsschaltung Semiconductor memory circuit with error handling

Halbleiterspeicher mit Fehlerbehandlungsschaltung

Halbleiterspeicher mit Fehlerbehandlungsschaltung Semiconductor memory with error handling circuit

Betriebsartenwählerschaltung Mode selector circuit