Yoji Kashihara

Semiconductor memory device and testing method therefor

Semiconductor storage unit

Semiconductor memory device having divided word line structure

Halbleiterspeichervorrichtung, die synchron zu einem Taktsignal arbeitet

Halbleiterspeichervorrichtung, die einen Burn-in-Test mit hoher Geschwindigkeit ausführen kann A semiconductor memory device which can perform a burn-in test at high speed

Halbleiterspeichervorrichtung mit Datenbuspaaren für das Datenschreiben und das Datenlesen A semiconductor memory device having data bus pairs for which the data writing and the data reading

Halbleiterspeichervorrichtung mit unterteilter Wortleitungsstruktur A semiconductor memory device having a split word line structure

A semiconductor memory device having a segmented word line structure

Halbleiterspeichereinheit Semiconductor memory unit

Halbleiterspeichervorrichtung, die synchron zu einem Taktsignal arbeitet A semiconductor memory device operating in synchronism with a clock signal