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Publication


Featured researches published by 正義 吉村.


Archive | 2001

Semiconductor wiring board, semiconductor device, test method therefor and mounting method therefor

Osamu Ichikawa; Mitsuho Ota; Sadami Takeoka; Masayoshi Yoshimura; 正義 吉村; 光保 太田; 市川 修; 貞巳 竹岡


Internathonal Workshop on Logic and Synthesis 2010 | 2010

TMR based Error Correction Method Considering Trade-off between Area and Soft-Error Tolerance

Shoji Harada; Masayoshi Yoshimura; Yusuke Matsunaga; 翔次 原田; 正義 吉村; 裕介 松永


IEICE technical report. Speech | 2009

Pulse Generation Analysis for SER Estimation Targeted to Cell-based Design

大昌 小津和; 正義 吉村; 裕介 松永; Daisuke Kozuwa; Masayoshi Yoshimura; Yusuke Matsunaga


Distributed Computing | 2015

スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法(セキュリティとテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

正義 吉村; 淳 西間木; 利典 細川


Distributed Computing | 2015

信号非遷移情報に基づくトロイ回路検出法(セキュリティとテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

知拓 坊屋鋪; 利典 細川; 正義 吉村


Distributed Computing | 2014

BASTにおけるシフトデータ量削減法(テストデータ圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)

まりか 田中; 紘史 山崎; 利典 細川; 正義 吉村; 雅之 新井


Distributed Computing | 2014

マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法(テストデータ圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)

紘史 山崎; 裕斗 川連; 淳 西間木; 淳士 平井; 利典 細川; 正義 吉村; 浩二 山崎


Distributed Computing | 2014

SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法(低消費電力テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

慶安 高橋; 紘史 山崎; 利典 細川; 正義 吉村


Distributed Computing | 2014

キャプチャ消費電力削減のためのマルチサイクルキャプチャテスト生成法(テスト設計手法,デザインガイア2014-VLSI設計の新しい大地-)

紘史 山崎; 淳 西間木; 利典 細川; 正義 吉村


Distributed Computing | 2014

キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法(テスト設計手法,デザインガイア2014-VLSI設計の新しい大地-)

慶安 高橋; 紘史 山崎; 利典 細川; 正義 吉村

Collaboration


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